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          一種采用分離柵極閃存單元實現(xiàn)可編程邏輯陣列的新型測試結構

          •   大多數(shù)可編程陣列使用易失性存儲器SRAM作為配置數(shù)據(jù)存儲元件。最近,有人嘗試使用非易失性存儲器(NVM)替代SRAM。基于NVM的FPGA是嵌入式IP應用的理想選擇,其架構和許多增強功能可改善芯片集成度、IP使用率和測試時間。Robert Lipp等人提出了一種采用淺溝槽隔離(STI)工藝的高壓三阱EEPROM檢測方案。
          • 關鍵字: 可編程  閃存  SRAM  SST  SCE  

          泰科電子推出全新熱縮標識系列產(chǎn)品

          •   泰科電子宣布推出全新TMS-90-SCE熱縮標識系列產(chǎn)品。該系列產(chǎn)品能夠充分滿足從航空、國防、船舶、鐵路、公共交通到工業(yè)及電子等各行業(yè)領域對高性能電纜及線纜標記的需求。泰科電子TMS-90-SCE熱縮標識系列產(chǎn)品的推出,為高溫環(huán)境下的作業(yè)帶來了可靠的機械強度、長時間高溫防護,以及強大的高溫防水性能。   泰科電子TMS-90-SCE熱縮標識具備極高的耐用性,持久性。該產(chǎn)品所用材料為耐用、阻燃的輻射交聯(lián)熱縮均聚聚烯烴,適用溫度范圍為-55°C至+135°C。并且產(chǎn)品重量輕巧,收縮率
          • 關鍵字: 泰科  電子  TMS-90-SCE  熱縮標識  
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