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中規(guī)模集成電路功能測試儀設(shè)計方案詳解

中規(guī)模集成電路功能測試儀設(shè)計方案詳解-集成電路的測試技術(shù)隨著集成電路開發(fā)應(yīng)用的飛速發(fā)展而發(fā)展。集成電路測試儀也從最初測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。
關(guān)鍵字：功能測試儀 ADC0809 SG3524 集成電路

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