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泰克為PCI Express 3.0推出邏輯分析儀測(cè)試解決方案
- 全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器廠商 – 泰克公司日前宣布，為下一代PCIe規(guī)范PCI Express 3.0推出完善的測(cè)試解決方案，用一個(gè)工具涵蓋協(xié)議層分析和物理層分析。泰克最新推出的TLA7SA16和TLA7SA08邏輯協(xié)議分析儀模塊、總線支持軟件和探頭相結(jié)合，使得PCIe 3.0開(kāi)發(fā)人員能夠以獨(dú)有的方式查看系統(tǒng)行為的時(shí)間相關(guān)特點(diǎn)，從協(xié)議層分析開(kāi)始一直到物理層，調(diào)試難檢問(wèn)題的根本原因。 泰克PCIe 3.0測(cè)試解決方案基于泰克上一代PCIe協(xié)議和邏輯分析產(chǎn)品，這些產(chǎn)品已經(jīng)被業(yè)內(nèi)芯片
- 關(guān)鍵字： 泰克 邏輯分析儀 PCIe TLA7000
泰克為DDR測(cè)試和驗(yàn)證解決方案系列增加兩項(xiàng)新功能
- 泰克公司日前宣布增強(qiáng)和升級(jí)其業(yè)界領(lǐng)先的DDR測(cè)試和驗(yàn)證解決方案系列。用于泰克TLA7000系列邏輯分析儀的新型內(nèi)插器為工程師提供了最新DDR3-1867標(biāo)準(zhǔn)的總線捕捉和分析功能。新型內(nèi)插器大大降低了TLA7000系列的DDR3測(cè)試成本，使存儲(chǔ)器總線捕捉功能能為更多的設(shè)計(jì)人員所使用。泰克同時(shí)還為DDR標(biāo)準(zhǔn)最新的節(jié)能版LP-DDR2推出業(yè)內(nèi)第一款電氣接口測(cè)試和驗(yàn)證解決方案。這些新功能完善了泰克全面而廣泛的DDR存儲(chǔ)器解決方案，為驗(yàn)證和改善工程師的設(shè)計(jì)提供幫助。 DDR3-1867是最新一代雙倍數(shù)
- 關(guān)鍵字： 泰克 DDR TLA7000
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