sar adc 文章進(jìn)入sar adc技術(shù)社區(qū)

基于高速信號(hào)鏈提高醫(yī)學(xué)成像質(zhì)量的設(shè)計(jì)研究

與所有非常依賴科技進(jìn)步的行業(yè)一樣，醫(yī)學(xué)成像設(shè)備廠商不得不持續(xù)改進(jìn)他們的產(chǎn)品——主要是改進(jìn)系統(tǒng)的成像質(zhì)量。無(wú)論是超聲波反射聲波、核磁共振成像 (MRI) 磁場(chǎng)擾動(dòng)還是正電子發(fā)射斷層成像 (PET) 的正。
關(guān)鍵字： ADC MRI 成像信號(hào)鏈

片上可編程系統(tǒng)在地震數(shù)據(jù)采集中的應(yīng)用

通過靈活配置，采用包括NiosII CPU軟核、采集控制接口、通訊接口以及數(shù)據(jù)傳輸控制模塊等一些外圍接口，配合ADC采集芯片，組成了一個(gè)具有采集控制和傳輸功能的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。通過測(cè)試和實(shí)驗(yàn)，達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)要求?？s短了開發(fā)周期，提高了研發(fā)的工作效率。
關(guān)鍵字： NiosII ADC 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

低價(jià)位嵌入式處理開發(fā)套件--Spartan-3E 1600E

Spartan-3E 1600E 開發(fā)套件支持靈活的 MicroBlaze 軟處理設(shè)計(jì)
關(guān)鍵字： LED DAC ADC FPGA RISC

基于C2000內(nèi)置12位ADC的電能計(jì)量方案

本應(yīng)用筆記介紹了基于C2000內(nèi)核和片內(nèi)12位ADC實(shí)現(xiàn)軟件電能計(jì)量的方案。C2000是德州儀器半導(dǎo)體有限公司生產(chǎn)的32位高性能實(shí)時(shí)微控制器，廣泛應(yīng)用于諸如馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，數(shù)字電源等各種和功率控制相關(guān)的實(shí)時(shí)控制領(lǐng)域，而電能和功率的計(jì)算在以上應(yīng)用中往往作為反饋控制的輸入信號(hào)存在。
關(guān)鍵字： C2000 微控制器德州儀器 ADC 電能計(jì)量

模數(shù)轉(zhuǎn)換器與嵌入式微處理器的接口技術(shù)

模數(shù)轉(zhuǎn)換器主要包括Sigma-Delta型、逐次逼近型和閃速型，應(yīng)用中工程師普遍關(guān)注的問題是如何提高轉(zhuǎn)換精度？
關(guān)鍵字： ADC DAC

為窄帶、高中頻、16位、250 MSPS接收機(jī)前端設(shè)計(jì)帶通濾波器的諧振匹配方法

本電路筆記介紹了如何設(shè)計(jì)接口電路和抗混疊濾波器才能在保持高性能的同時(shí)確保最低信號(hào)損耗的系統(tǒng)化過程。使用諧振匹配方法來(lái)設(shè)計(jì)最平坦的巴特沃茲四階帶通濾波器，中心頻率為200 MHz。
關(guān)鍵字： ADL5565 ADI 差分放大器 ADC AD9467 接口電路抗混疊濾波器

Σ-Δ型ADC拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)基本原理

Σ-Δ型ADC是當(dāng)今信號(hào)采集和處理系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的工具箱中必不可少的基本器件。本文的目的是讓讀者對(duì)Σ-Δ型號(hào)ADC拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)背后的根本原理有一個(gè)基本了解。本文探討了與ADC子系統(tǒng)設(shè)計(jì)相關(guān)的噪聲、帶寬、建立時(shí)間和所有其他關(guān)鍵參數(shù)之間的權(quán)衡分析示例，以便為精密數(shù)據(jù)采集電路設(shè)計(jì)人員提供背景信息。
關(guān)鍵字： ADC 信號(hào)采集處理系統(tǒng)

ADC噪聲系數(shù) —— 一個(gè)經(jīng)常被誤解的參數(shù)

噪聲系數(shù)(NF)是RF系統(tǒng)設(shè)計(jì)師常用的一個(gè)參數(shù)，它用于表征RF放大器、混頻器等器件的噪聲，并且被廣泛用作無(wú)線電接收機(jī)設(shè)計(jì)的一個(gè)工具。許多優(yōu)秀的通信和接收機(jī)設(shè)計(jì)教材都對(duì)噪聲系數(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本文重點(diǎn)討論該參數(shù)在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中的應(yīng)用。
關(guān)鍵字： ADC 噪聲系數(shù) RF系統(tǒng)設(shè)計(jì) 級(jí)聯(lián)噪聲系數(shù)

重新思考快速寬頻ADC中的數(shù)字下變頻

寬帶每秒數(shù)千兆個(gè)樣本(GSPS)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 為高速采集系統(tǒng)帶來(lái)眾多性能優(yōu)勢(shì)。這些ADC在高采樣率和輸入帶寬下提供較寬的可見頻譜。然而，有些情況需要寬帶前端，有些則要求能夠?yàn)V波并調(diào)諧為較窄的頻帶。
關(guān)鍵字：數(shù)字下變頻 ADC 快速寬頻

ADC中的集成式容性PGA：重新定義性能

ADI專利的容性可編程增益放大器(PGA)相比傳統(tǒng)的阻性PGA具有更佳的性能，包括針對(duì)模擬輸入信號(hào)的更高共模電壓抑制能力。
關(guān)鍵字： ADC PGA 增益放大器

信號(hào)鏈基礎(chǔ)知識(shí) # 50：彌合高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器連續(xù)波和調(diào)制信號(hào)測(cè)量之間的差異

彌合基于 CW 測(cè)量的各種規(guī)范和調(diào)制信號(hào)的系統(tǒng)要求之間存在的差異具有一定的挑戰(zhàn)。
關(guān)鍵字：德州儀器信號(hào)鏈 ADC 高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)模轉(zhuǎn)換器連續(xù)波

基于片上ADC/DAC實(shí)現(xiàn)精度可調(diào)ADC的方法

某系統(tǒng)的A／D模塊需實(shí)現(xiàn)檢測(cè)輸入電壓值，變化范圍為0～58 V。主芯片選用NXP公司的ARM7系列的LPC2368，片上自帶10位ADC和DAC，ADC測(cè)量輸入電壓范圍是0～3 V，而DAC的范圍是0～3 V。傳統(tǒng)方法是直接將輸入電壓送入ADC法滿足精度要求，但輸入電壓的變化范圍大于ADC的輸入電壓范圍。基于此，這里給出一種利用MCU自帶ADC和DAC，并結(jié)合運(yùn)放、電容、電阻等元件搭建外圍硬件電路，實(shí)現(xiàn)10～20位測(cè)量精度可調(diào)的ADC的方法。
關(guān)鍵字： ADC/DAC 精度運(yùn)算電路

基于IML工藝的天線設(shè)計(jì)方法

本文簡(jiǎn)要介紹了一款基于IML工藝制程天線的高效設(shè)計(jì)方法。由于基于這種工藝的天線無(wú)法用傳統(tǒng)的方法調(diào)試，所以本文采用了一種新的設(shè)計(jì)調(diào)試方法——用電磁仿真軟件AMDS設(shè)計(jì)、優(yōu)化天線。通過仿真找到天線的敏感區(qū)，通過設(shè)計(jì)控制、減少甚至避免在IML工藝流程中由于拉伸變形而產(chǎn)生的天線性能的變化。
關(guān)鍵字： IML 仿真敏感區(qū) SAR HAC

電力數(shù)據(jù)采集A/D轉(zhuǎn)換器的選擇方案

　當(dāng)今社會(huì)對(duì)電能質(zhì)量的要求越來(lái)越高，國(guó)家還專門制定了電能質(zhì)量的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。因此，電能質(zhì)量的測(cè)量越來(lái)越得到電力用戶的重視。電能測(cè)量時(shí)，從電網(wǎng)的數(shù)據(jù)采集結(jié)果對(duì)其精度的影響起著致關(guān)重要的作用，而這其中影響最大的是把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，往往A／D芯片的技術(shù)參數(shù)和指標(biāo)就決定了整個(gè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的性能指標(biāo)。本文就電能測(cè)量ADC的選擇作了綜述。
關(guān)鍵字： ADC A／D 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

剖析：ADC設(shè)計(jì)全接觸

我們處在一個(gè)數(shù)字時(shí)代，而我們的視覺、聽覺、感覺、嗅覺等所感知的卻是一個(gè)模擬世界。如何將數(shù)字世界與模擬世界聯(lián)系在一起，正是模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器 (ADC)和數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)大顯身手之處。任何一個(gè)信號(hào)鏈系統(tǒng)，都需要傳感器來(lái)探測(cè)來(lái)自模擬世界的電壓、電流、溫度、壓力等信號(hào)。這些傳感器探測(cè)到的信號(hào)量被送到放大器中進(jìn)行放大，然后通過ADC把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)。新的應(yīng)用需求不斷推動(dòng)模擬技術(shù)的發(fā)展：性能越來(lái)越高，集成度不斷提高。ADC產(chǎn)品作為模擬IC的重要成員，在符合上述發(fā)展的趨勢(shì)下，還存在自身的特點(diǎn)……
關(guān)鍵字： ADC DAC 模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換