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在射頻產(chǎn)品設(shè)計中將仿真與測量相結(jié)合
- 縮短產(chǎn)品開發(fā)周期一直以來都是研發(fā)機構(gòu)的主要目標(biāo)。減少開發(fā)時間的方法之一是將設(shè)計和測試工作同步進行——即通常遵循V型圖產(chǎn)品開發(fā)模式。這種方法已經(jīng)應(yīng)用于汽車業(yè)和航空業(yè)。
- 關(guān)鍵字: NI EDA 設(shè)計和測試
基于EDA 技術(shù)(FPGA)的自動門控制系統(tǒng)設(shè)計
- 引 言門和人類文明是孿生的,它伴隨著人類文明的發(fā)展而躍動。21 世紀(jì)的今天,門更加突出了安全理念,強調(diào)了有效性:有效地防范、通行、疏散,同時還突出了建筑藝術(shù)的理念,強調(diào)門與建筑以及周圍環(huán)境整體的協(xié)調(diào)、和諧
- 關(guān)鍵字: FPGA EDA 自動門 控制系統(tǒng)設(shè)計
EDA在數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計中的應(yīng)用
- 隨著電子工程與計算機科學(xué)(EECS)的迅猛發(fā)展,數(shù)字電路系統(tǒng)的發(fā)展也十分迅速。電子器件在最近幾十年經(jīng)歷了從小規(guī)模集成電路(SSI)、中規(guī)模集成電路(MSI)到大規(guī)模集成電路(LSI)以至超大規(guī)模集成電路(VLSI)的發(fā)
- 關(guān)鍵字: EDA 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計 中的應(yīng)用
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