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多核軟件調(diào)試的難點及新方法
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： 多核軟件調(diào)試 JTAG SoC 片上調(diào)試
探討基于JTAG技術(shù)的嵌入式系統(tǒng)測試的各個階段
- 引言 IEEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復(fù)雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
- 關(guān)鍵字： JTAG 技術(shù)的嵌入式 系統(tǒng)測試
基于SOPC的M8051嵌入式調(diào)試器設(shè)計
- 摘要：調(diào)試器是嵌入式系統(tǒng)軟件開發(fā)的重要工具。本文設(shè)計了一款基于USB接口并以SOPC方式實現(xiàn)的M8051嵌入式調(diào)試 ...
- 關(guān)鍵字： SOPC M8051 嵌入式調(diào)試器 JTAG
滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測試需求的JTAG技術(shù)
- 引言：EEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復(fù)雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
- 關(guān)鍵字： JTAG 嵌入式系統(tǒng) 電路 特性測試
多核處理器架構(gòu)及調(diào)試方案
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： 處理架構(gòu) 多核處理器 調(diào)試方案 JTAG
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