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投射電容屏內(nèi)部噪聲的消除方法

要點(diǎn)1.電容式觸摸屏已廣泛普及，但它易于因產(chǎn)品的噪聲而產(chǎn)生虛假和錯(cuò)誤的響應(yīng)。2.噪聲來源于內(nèi)部DC/DC轉(zhuǎn)換器子系統(tǒng)和顯示驅(qū)動(dòng)器。3.無論是處理顯示屏、充電器、天線或其它來源的噪聲，觸摸IC都必須做到相同的用戶體驗(yàn)
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隨著微電子制造業(yè)的發(fā)展，制作高速、高集成度的CMOS電路已迫在眉睫，從而促使模擬集成電路的工藝水平達(dá)到深亞微米級(jí)。因?yàn)橹T如溝道長(zhǎng)度、溝道寬度、閾值電壓和襯底摻雜濃度都未隨器件尺寸的減小按比例變化，所以器件
關(guān)鍵字：差分放大器效應(yīng) 消除方法

敘述模擬集成電路設(shè)計(jì)中關(guān)于MOS管不匹配特性的一些基本概念，以及隨著加工尺寸的不斷減小，MOS管所引起的一系列短溝道效應(yīng)，進(jìn)而描述整個(gè)MOS管模型的發(fā)展歷史，以此說明一個(gè)精確模型對(duì)模擬電路設(shè)計(jì)的重要意義。然后進(jìn)一步闡述因MOS管失配而引起電路性能變差，尤其是對(duì)整個(gè)D／A轉(zhuǎn)換器性能的影響；進(jìn)而采用改進(jìn)技術(shù)，并對(duì)其進(jìn)行了進(jìn)一步驗(yàn)證。針對(duì)放大器引起的失調(diào)，介紹通過版圖設(shè)計(jì)消除失配的原理，并且運(yùn)用電路設(shè)計(jì)方法進(jìn)行消除，采用TSMC0．25μm標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝參數(shù)對(duì)其進(jìn)行仿真驗(yàn)證。針對(duì)D／A的電流源失配引起的電路性
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摘要：為了消除時(shí)域同步正交頻分復(fù)用(TDS-OFDM)系統(tǒng)中的載波間干擾(ICl)，通過假定信道在OFDM塊內(nèi)呈線性變化，建...
關(guān)鍵字：干擾消除 TDS-OFDM 信道信干比頻移正交頻分復(fù)用誤比特率體數(shù)據(jù) 載波消除方法

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