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          車載中控屏核心板開機(jī)不良分析

          發(fā)布人:新陽檢測 時間:2022-06-21 來源:工程師 發(fā)布文章
          1.案例背景

          某車載中控屏,在終端客戶運(yùn)行半年左右發(fā)生無顯示以及黑屏異常。通過對中控屏主板的應(yīng)力分析(對殼體、核心電子元器件及PCB實施壓力),初步鎖定主板上的BGA封裝器件可能存在連接性失效。

          2.分析過程

          針對該樣品出現(xiàn)的問題,我們采取了X-Ray檢測、切片分析以及工藝分析的方式。具體的測試過程如下——

          2.1 X-Ray 檢測

          結(jié)果:eMMC檢出異常。


          2.1.1 異常點(diǎn)位

          結(jié)果:異常焊點(diǎn)與正常焊點(diǎn)的X-Ray圖像比對如下,由圖可見,存在虛焊的可能性。

          說明:取異常品、正常品(功能)對比檢測。


          2.1.2 3D X-Ray檢測

          結(jié)果:異常焊點(diǎn)a存在虛焊可能性。


          2.1.3 功能影響的確認(rèn)

          X-Ray圖功能圖

          結(jié)果:異常焊點(diǎn)a為data功能,若虛焊,會造成直接影響;焊點(diǎn)b無功能作用。

          2.2 切片分析


          結(jié)果:BGA枕焊不良。

          說明:圖5所示間隙2.965μm。


          2.2.1 eMMC異常焊點(diǎn)a的斷面金相分析

          截面積比較:異常點(diǎn)焊球截面積明顯小于正常焊球截面積。

          斷面錫膏上錫寬度比較:異常點(diǎn)上錫寬度約正常焊點(diǎn)寬度67%。

          斷面錫膏上錫寬度比較:焊盤上錫64.2%(截面),焊錫厚度僅0.034mm。結(jié)果:異常焊點(diǎn)a存在印刷錫少可能性。


          2.2.2 與正常的BGA焊球相比,eMMC 異常焊點(diǎn)a同排焊點(diǎn)的斷面金相

          結(jié)果:與正常的BGA焊球相比,焊球呈拉伸狀態(tài)。

          說明:BGA焊點(diǎn)呈拉伸狀態(tài)原因,可能是焊接過程中BGA焊球未充分坍塌,即存在錫液相時間不足的可能性。

          2.2.3 eMMC異常焊點(diǎn)a的斷面SEM分析

          結(jié)果:BGA焊球與錫膏處于未熔合狀態(tài),并伴有錫填充量不足的現(xiàn)象。異常焊點(diǎn)a的斷面SEM分析:IMC層

          結(jié)果:
          ①IMC有連續(xù)性;
          ②IMC層致密性不足;
          ③IMC層厚度不均勻,且整體IMC層厚度偏小。

          說明:
          IMC層的形成與溫度、錫液相時間直接相關(guān)。常規(guī)焊接情況下,BGA焊接形成的IMC層厚度主要在2.5μm左右,本樣品的IMC層厚度平均小于1μm,進(jìn)一步說明回流時錫液相時間不足。

          2.3 工藝分析


          2.3.1 SPI錫膏檢測

          結(jié)果:
          調(diào)取對應(yīng)批次eMMC位置SPI錫膏印刷數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析(體積數(shù)據(jù)),如圖示,eMMC BGA 印錫過程能力CPK 0.75,說明印刷過程非常不穩(wěn)定。從超范圍的區(qū)間分布判斷,16.5%的焊點(diǎn)存在很大的錫少風(fēng)險。

          說明:
          前述分析的錫少可能性,通過該組數(shù)據(jù)的分析,可以確定確實存在。


          2.3.2 鋼網(wǎng)開口設(shè)計

          結(jié)果:

          eMMC BGA 開口面積寬厚比為0.52,遠(yuǎn)小于標(biāo)準(zhǔn)0.66及以上,錫在PCB上的沉積量主要由開口寬厚比決定。雖然采用了納米工藝涂層,但面積比過小,還是會影響錫沉積效果,造成印錫的不穩(wěn)定。

          說明:

          鋼網(wǎng)材質(zhì):納米鋼網(wǎng)

          鋼網(wǎng)厚度:0.12mm

          eMMC BGA開口:φ0.25mm


          2.3.3 回流溫度的設(shè)定分析

          結(jié)果:

          預(yù)熱時間(150℃-190℃)約60s→時間短

          最高溫度、220℃以上時間:U1底部大于U1表面,不合理,數(shù)據(jù)有誤(接點(diǎn)與記錄不一致)→BGA實際溫度未知

          最高溫度:246.7℃ →無特別異常

          220℃以上時間:BGA 47.5s→無特別異常


          說明:測溫板標(biāo)本不是實際機(jī)型基板,結(jié)構(gòu)及器件布局上可能存在差異,板的散熱結(jié)構(gòu)也可能存在差異,不能準(zhǔn)確地反映對象機(jī)型的溫度實況。

          3.分析結(jié)果

          3.1 eMMC(BGA) 虛焊的原因

          首先是錫少。具體表現(xiàn)在:沉錫能力CPK 0.75,錫量沉積不足;鋼網(wǎng)開口面積比0.52小于<0.66,對沉錫有影響 ;印刷參數(shù):錫膏管理、鋼網(wǎng)清洗、關(guān)鍵參數(shù)(速度、清洗方式等)。
          其次是回流錫液相時間不足。具體表現(xiàn)在:焊接IMC層厚度1.0μm左右;液相時間、溫度不足。預(yù)熱時間、液相時間較短,且溫度未達(dá)到230℃以上;由于錫液相時間不足,BGA焊球與錫未熔合,有裂隙存在。

          3.2 eMMC(BGA) 虛焊發(fā)生機(jī)理

          錫膏印刷工程沉錫能力低,工程不穩(wěn)定與鋼網(wǎng)及印刷參數(shù)的管理相關(guān)?;亓骱附訒r,印刷錫膏先液化坍塌,BGA焊球后液化坍塌。從金相分析確認(rèn),由于溫度設(shè)定存在缺陷,BGA焊球未完全坍塌時,即發(fā)生降溫冷卻,形成拉升狀焊點(diǎn)。印刷錫少,焊點(diǎn)則出現(xiàn)錫膏與錫球未充分接觸而形成枕焊,造成BGA焊球與錫膏不能有效的接觸、作用。

          因此,造成本次問題的原因是這兩個方面綜合導(dǎo)致的——印刷錫少、回流時錫液相時間不足。


          4.改善方案


          4.1 鋼網(wǎng)
          鋼網(wǎng)仍采用納米鋼網(wǎng),厚度變更從0.12mm到0.1mm(面積比由0.52到0.63)。
          U8開口保持不變φ0.25mm,其他BGA按照焊盤直徑變更為外切正方形開口。

          4.2 回流溫度
          制作實板的測溫標(biāo)本,每個BGA焊球溫度需監(jiān)測;
          回流溫度的設(shè)定建議:

          • 150-190℃時間:70s-80s之間;

          • 220℃以上時間:60-75s;

          • 230℃以上時間:30s以上。

          溫度曲線類型:RTS。

          4.3 管理
          建議加強(qiáng)車載產(chǎn)品的初期管理,從參數(shù)評估/過程管理評估到固化點(diǎn)檢,確保工藝及工程的穩(wěn)定性。

          說明:上述改善方案實施后,跟蹤該產(chǎn)品后續(xù)批次的生產(chǎn),失效問題未在發(fā)生。

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