集成電路電磁兼容測(cè)試(IC EMC Test)的概念及意義
一、集成電路的基本結(jié)構(gòu)
圖1 集成電路的基本結(jié)構(gòu)
一般地,從物理層面看,一顆完整的集成電路由晶片、金線、芯片鍵合材料、局部鍍銀引腳
以及集成電路外部的封裝樹脂組成。
當(dāng)然,對(duì)于集成電路的結(jié)構(gòu)有著不同的劃分方法,但是上述從物理層面對(duì)集成電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行
劃分的方法有助于后續(xù)集成電路電磁兼容測(cè)試結(jié)果的仿真建模分析,尤其是集成電路傳導(dǎo)發(fā)射特
性模型的建立,有著舉足輕重的作用,因此,對(duì)于后續(xù)理解和學(xué)習(xí)集成電路電磁兼容(IC-EMC)
也就具有十分重要的意義。
二、集成電路和芯片的概念
為了弄清楚集成電路和芯片的基本概念,我查詢了GB/T 9178-1988《集成電路術(shù)語》,在
該標(biāo)準(zhǔn)中給出了集成電路(Integrated Circuit)、芯片(Chip)、襯底(Substrate)、晶片
(Wafer)的概念。
①集成電路(Integrated Circuit)將若干電路元件不可分割地聯(lián)在一起,并且在電氣上互連,
以致就規(guī)范、試驗(yàn)、貿(mào)易和維修而言,被視為不可分割的一種電路。
②芯片(Chip)從含有器件或電路陣列的晶片上分割的至少包含有一個(gè)電路的部分。
③襯底(Substrate)在其表面和內(nèi)部制造器件或電路元件的材料。 基片(Substrate)對(duì)膜電
路元器件和(或)外貼元器件形成支撐基體的片狀材料。
④晶片(Wafer)一種半導(dǎo)體材料或?qū)⑦@種半導(dǎo)體材料沉積到襯底上面形成的薄片或扁平圓片,
在它上面可同時(shí)制作出一個(gè)或若干個(gè)器件,然后將它分割成芯片。
由此可見,圖1所示的整體為集成電路,而其最里面的核心部分為芯片,而襯底是芯片的基
本材料,而晶片則是襯底的核心材料,其通過特殊加工工藝而制成芯片。
三、集成電路電磁兼容的基本概念
在說集成電路電磁兼容概念之前,先復(fù)習(xí)一下電磁兼容的概念:電磁兼容性(設(shè)備或系統(tǒng)級(jí))
——設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁干擾的
能力。
顯然,集成電路電磁兼容性(芯片級(jí))——集成電路在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)
境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁干擾的能力。
四、集成電路電磁兼容的意義
集成電路電磁兼容測(cè)試的必要性:
①IC作為電子系統(tǒng)的組成部分,其影響電子系統(tǒng)的EMC;
②IC可產(chǎn)生騷擾信號(hào),為騷擾源,例如可將給其供電的直流電源轉(zhuǎn)換為高頻電流或電壓,從而
產(chǎn)生無用發(fā)射;
③IC也易受過電壓或過電流而損壞,例如耦合到IC引腳的噪聲也會(huì)使其發(fā)生故障。
集成電路電磁兼容測(cè)試的意義:
①基于此,要對(duì)IC的測(cè)試進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化;
②通過測(cè)試,設(shè)計(jì)人員能夠選擇發(fā)射低、抗擾度高的IC;
③評(píng)估IC的設(shè)計(jì);
④優(yōu)化IC的設(shè)計(jì)等。
作者信息:朱賽,18210821611,zhusai@cesi.cn
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