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          集成電路電磁兼容測(cè)試(IC EMC Test)的概念及意義

          發(fā)布人:andery88 時(shí)間:2024-07-29 來源:工程師 發(fā)布文章

          一、集成電路的基本結(jié)構(gòu)

          圖1 集成電路的基本結(jié)構(gòu)

                  一般地,從物理層面看,一顆完整的集成電路由晶片、金線、芯片鍵合材料、局部鍍銀引腳

          以及集成電路外部的封裝樹脂組成。

                  當(dāng)然,對(duì)于集成電路的結(jié)構(gòu)有著不同的劃分方法,但是上述從物理層面對(duì)集成電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行

          劃分的方法有助于后續(xù)集成電路電磁兼容測(cè)試結(jié)果的仿真建模分析,尤其是集成電路傳導(dǎo)發(fā)射特

          性模型的建立,有著舉足輕重的作用,因此,對(duì)于后續(xù)理解和學(xué)習(xí)集成電路電磁兼容(IC-EMC)

          也就具有十分重要的意義。

          二、集成電路和芯片的概念

                  為了弄清楚集成電路和芯片的基本概念,我查詢了GB/T 9178-1988《集成電路術(shù)語》,在

          該標(biāo)準(zhǔn)中給出了集成電路(Integrated Circuit)、芯片(Chip)、襯底(Substrate)、晶片

          (Wafer)的概念。

              ①集成電路(Integrated Circuit)將若干電路元件不可分割地聯(lián)在一起,并且在電氣上互連,

              以致就規(guī)范、試驗(yàn)、貿(mào)易和維修而言,被視為不可分割的一種電路。

              ②芯片(Chip)從含有器件或電路陣列的晶片上分割的至少包含有一個(gè)電路的部分。

              ③襯底(Substrate)在其表面和內(nèi)部制造器件或電路元件的材料。 基片(Substrate)對(duì)膜電

              路元器件和(或)外貼元器件形成支撐基體的片狀材料。

              ④晶片(Wafer)一種半導(dǎo)體材料或?qū)⑦@種半導(dǎo)體材料沉積到襯底上面形成的薄片或扁平圓片,

              在它上面可同時(shí)制作出一個(gè)或若干個(gè)器件,然后將它分割成芯片。

                  由此可見,圖1所示的整體為集成電路,而其最里面的核心部分為芯片,而襯底是芯片的基

          本材料,而晶片則是襯底的核心材料,其通過特殊加工工藝而制成芯片。

          三、集成電路電磁兼容的基本概念

                  在說集成電路電磁兼容概念之前,先復(fù)習(xí)一下電磁兼容的概念:電磁兼容性(設(shè)備或系統(tǒng)級(jí))

          ——設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁干擾的

          能力。

                  顯然,集成電路電磁兼容性(芯片級(jí))——集成電路在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)

          境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁干擾的能力。

          四、集成電路電磁兼容的意義

                  集成電路電磁兼容測(cè)試的必要性:

              ①IC作為電子系統(tǒng)的組成部分,其影響電子系統(tǒng)的EMC;

              ②IC可產(chǎn)生騷擾信號(hào),為騷擾源,例如可將給其供電的直流電源轉(zhuǎn)換為高頻電流或電壓,從而

          產(chǎn)生無用發(fā)射;

              ③IC也易受過電壓或過電流而損壞,例如耦合到IC引腳的噪聲也會(huì)使其發(fā)生故障。

                  集成電路電磁兼容測(cè)試的意義:

              ①基于此,要對(duì)IC的測(cè)試進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化;

              ②通過測(cè)試,設(shè)計(jì)人員能夠選擇發(fā)射低、抗擾度高的IC;

              ③評(píng)估IC的設(shè)計(jì);

              ④優(yōu)化IC的設(shè)計(jì)等。



          作者信息:朱賽,18210821611,zhusai@cesi.cn

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