一、受試樣品不同

溫度循環(huán)試驗(yàn)一般對(duì)電路板、部件、整機(jī)、設(shè)備或系統(tǒng)進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

溫度沖擊試驗(yàn)一般針對(duì)電子元器件、電路板、零部件等進(jìn)行測(cè)試，特別適合用于篩選元器件，尤其是集成電路器件。

二、測(cè)試目的不同

溫度循環(huán)試驗(yàn)主要考核電子設(shè)備在溫度循環(huán)變化的環(huán)境適應(yīng)性能力，是否可以正常工作；

溫度沖擊試驗(yàn)主要考核受試電子器件在高范圍的環(huán)境應(yīng)力例如溫度范圍在-70℃~180℃條件下的器件篩選試驗(yàn)。

三、測(cè)試要求不同

溫度循環(huán)試驗(yàn)：高溫溫度值、低溫溫度值、溫度變化速率（如5℃/min）、高低溫溫度點(diǎn)保持時(shí)間、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為寬松，循環(huán)次數(shù)多為10次循環(huán)。

度沖擊試驗(yàn)：高溫溫度值、低溫溫度值、溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間（如溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間≤3min）、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為嚴(yán)苛，循環(huán)次數(shù)多為幾次至幾十次循環(huán)不等。

四、受試樣機(jī)的工作狀態(tài)不同

溫度循環(huán)試驗(yàn)：溫度循環(huán)試驗(yàn)期間要求在不同的循環(huán)時(shí)間點(diǎn)需要對(duì)受試樣機(jī)進(jìn)行上電檢測(cè)功能和性能的完好性。

溫度沖擊試驗(yàn)：溫度沖擊試驗(yàn)期間一般不要求對(duì)受試樣機(jī)進(jìn)行上電檢測(cè)，試驗(yàn)后通電檢測(cè)或通過專業(yè)輔助儀器測(cè)試樣機(jī)的其他性能指標(biāo)。

五、受試樣品的數(shù)量不同

溫度沖擊試驗(yàn)：一般針對(duì)集成電路器件、電路板等進(jìn)行，測(cè)試的數(shù)量一般較多。

溫度循環(huán)試驗(yàn)：一般的環(huán)境應(yīng)力篩選只在要求篩選的幾臺(tái)或1臺(tái)受試整機(jī)或系統(tǒng)上進(jìn)行測(cè)試。

六、測(cè)試設(shè)備不同

溫度循環(huán)試驗(yàn)：

對(duì)于不要求溫度變化速率或溫度變化速率要求比較低（如1℃/min）的溫度循環(huán)試驗(yàn)，其實(shí)就是常規(guī)的高低溫循環(huán)試驗(yàn),使用普通的高低溫試驗(yàn)箱即可進(jìn)行測(cè)試。

對(duì)于要求高溫度變化速率（如5℃/min,10℃/min,15℃/min）的溫度循環(huán)試驗(yàn)，需要使用專用的快速溫變箱進(jìn)行測(cè)試，普通溫度箱是不能滿足要求的，對(duì)于要求更高溫度變化速率的，就需要使用高加速壽命HALT試驗(yàn)箱。

溫度沖擊試驗(yàn)：

一箱法的溫度沖擊試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱只有一個(gè)區(qū)域，低溫溫度點(diǎn)時(shí)，高溫風(fēng)門關(guān)閉，只送冷風(fēng)，高溫溫度點(diǎn)時(shí)，低溫風(fēng)門關(guān)閉，高溫風(fēng)門打開送熱風(fēng)。

兩箱法溫度沖擊箱，一個(gè)低溫區(qū)，一個(gè)高溫區(qū)，通過提籃將受試樣品在低溫區(qū)和高溫區(qū)之間轉(zhuǎn)換。

七、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)不同

溫度循環(huán)試驗(yàn)：

GJB 1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法 》；

GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》。

溫度沖擊試驗(yàn)：

GJB 150.5A-2009《裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)》；

GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》。

檢測(cè)試驗(yàn)找彭工136-9109-3503。