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          Multitest MEMS測(cè)試校準(zhǔn)適用于MT9510水平拿放式測(cè)試

          作者: 時(shí)間:2012-01-17 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            2012年1月---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終分包商,設(shè)計(jì)和制造最終分選機(jī)、座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商公司,現(xiàn)已將首臺(tái)適于水平拿放式測(cè)試分選機(jī)的 MEMS設(shè)備發(fā)送到美國(guó)的一家IDM。這種新型組合以兩種成熟平臺(tái)為基礎(chǔ):MT MEMS和?!?/p>本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/128197.htm

           

            該裝置適合MEMS陀螺儀測(cè)試,并已成功安裝。它充分利用了我們長(zhǎng)期積累的MEMS檢測(cè)專業(yè)知識(shí)以及對(duì)器件分選相關(guān)挑戰(zhàn)的全面了解。因此,業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的定位準(zhǔn)確度和三溫性能現(xiàn)也適用于MEMS測(cè)試。

            已收到封裝轉(zhuǎn)換套件及其他系統(tǒng)的追加訂單。



          關(guān)鍵詞: Multitest 測(cè)試 MT9510

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