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          華虹NEC攜手Advantest成功開(kāi)發(fā)RFID芯片多同測(cè)解決方案

          —— 能迅速準(zhǔn)確地進(jìn)行RFID反饋?zhàn)R別
          作者: 時(shí)間:2012-06-22 來(lái)源:IC設(shè)計(jì)與制造 收藏

            上海NEC電子有限公司 (以下簡(jiǎn)稱(chēng)“NEC”)與全球?qū)I(yè)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“Advantest”)近日共同宣布,已成功合作開(kāi)發(fā)ISO14443協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的晶圓級(jí)大規(guī)模多同測(cè)解決方案,并正式進(jìn)入量產(chǎn)階段。結(jié)合NEC在智能卡和安全類(lèi)芯片領(lǐng)域先進(jìn)的生產(chǎn)工藝和測(cè)試開(kāi)發(fā)能力,華虹NEC與Advantest共同開(kāi)發(fā)出的測(cè)試方案,能迅速準(zhǔn)確地進(jìn)行RFID反饋?zhàn)R別,其量產(chǎn)測(cè)試良率亦得到大客戶認(rèn)可。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/133842.htm

            ISO14443協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的主要有兩種類(lèi)型,分別是TYPE A與TYPE B,主要區(qū)別在于13.56MHz的載波使用不同的調(diào)制/解調(diào)方式。實(shí)際應(yīng)用中發(fā)射端發(fā)射13.56MHz的載波,并且把編碼信息調(diào)制在載波中。本身則通過(guò)天線端接收載波信號(hào)用于對(duì)芯片本身提供電源;同時(shí)RFID芯片也在發(fā)射端所提供的13.56MHz載波上疊加數(shù)據(jù),從而返回?cái)?shù)據(jù)給發(fā)射端形成信息交互。由于RFID芯片本身的特性決定了在進(jìn)行高同測(cè)數(shù)測(cè)試時(shí),芯片相互間會(huì)存在有很大的串?dāng)_,影響測(cè)試良率,造成量產(chǎn)產(chǎn)能下降。

            華虹NEC和Advantest共同開(kāi)發(fā)的測(cè)試方案中,充分發(fā)揮Advantest先進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)T2000的技術(shù)優(yōu)勢(shì),使用高抗串?dāng)_性的測(cè)試接口,并且在程序中進(jìn)行了減小誤碼率的優(yōu)化,將串?dāng)_引起的誤碼率降到最低,實(shí)現(xiàn)了RFID高同測(cè)數(shù)的測(cè)試需求。此次量產(chǎn)測(cè)試中采用的32同測(cè)方案是迄今為止業(yè)界同類(lèi)產(chǎn)品的最高同測(cè)數(shù)測(cè)試方案,同時(shí)雙方已為下一階段64同測(cè)方案做好了技術(shù)儲(chǔ)備。

            華虹NEC副總裁徐偉先生表示:“華虹NEC與Advantest有著長(zhǎng)期的合作歷史。此次通過(guò)兩個(gè)公司測(cè)試開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)的共同努力,利用Advantest先進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)T2000的技術(shù)優(yōu)勢(shì),借助華虹NEC在智能卡和安全類(lèi)芯片領(lǐng)域先進(jìn)的生產(chǎn)工藝和測(cè)試開(kāi)發(fā)能力,我們成功突破了RFID芯片的量產(chǎn)測(cè)試效率瓶頸。這是RFID測(cè)試領(lǐng)域的一次重要飛躍,該方案也為大規(guī)模量產(chǎn)奠定了基礎(chǔ),鋪平了道路。”

            Advantest中國(guó)區(qū)總經(jīng)理徐勇先生表示:“半個(gè)多世紀(jì)以來(lái),Advantest都一直致力于為客戶提供業(yè)界標(biāo)桿產(chǎn)品和服務(wù)。華虹NEC是世界領(lǐng)先的晶圓代工廠,同時(shí)具有一支高水平的測(cè)試團(tuán)隊(duì)與完善的測(cè)試系統(tǒng),我們非常樂(lè)意向華虹NEC提供我們最先進(jìn)的測(cè)試系統(tǒng)和最全面的測(cè)試技術(shù)服務(wù),支持華虹NEC為客戶提供全方位的測(cè)試解決方案。希望此次與華虹NEC合作開(kāi)發(fā)的RFID芯片多同測(cè)解決方案,能迅速推廣給客戶,贏得市場(chǎng),有效提升RFID測(cè)試的生產(chǎn)效率。”

            通過(guò)此次的合作,華虹NEC和Advantest攜手突破了RFID芯片的量產(chǎn)測(cè)試效率瓶頸,為客戶提供了更具性?xún)r(jià)比的RFID芯片量產(chǎn)測(cè)試解決方案,能幫助客戶進(jìn)一步提升其產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力,并為客戶下一代的RFID芯片提供有力的測(cè)試技術(shù)支持。

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