如何選擇恰當?shù)某挽o態(tài)電流LDO穩(wěn)壓器
電子應用設計人員現(xiàn)今面臨的一項極重要挑戰(zhàn)是將電子系統(tǒng)能耗降至最低。為了達到此目的,大多數(shù)系統(tǒng)利用不同的低功率模式,幫助降低整體功耗。在利用不同工作模式時,系統(tǒng)供電電流差異極大,低者如休眠模式下僅為數(shù)微安(μA)或不足1微安,高者如完整功率模式下達數(shù)十毫安(mA)甚至數(shù)百毫安。低壓降線性穩(wěn)壓器(通常簡稱為LDO)是任何電源系統(tǒng)的常見構建模塊,而線性穩(wěn)壓器的選擇對系統(tǒng)總體能耗有重要影響。不僅如此,系統(tǒng)設計常常要求LDO不僅具有超低靜態(tài)電流特性,還應當提供良好的動態(tài)性能,確保提供穩(wěn)定及無噪聲的電壓輸入端,適合敏感電路應用。這些要求還常常相互排斥,為IC設計人員帶來切實的挑戰(zhàn)。因此,市場上同時滿足兩方面要求的LDO為數(shù)不多。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/133988.htm本文將探討在選擇LDO時需要在提供低IQ與良好動態(tài)性能之間進行的折衷,及現(xiàn)時一些能達至可接受的平衡的技巧。
選擇LDO時要顧及的因素
為低功率應用選擇線性穩(wěn)壓器時,工程師主要搜尋符合他們輸入電壓及輸出電流規(guī)格的超低IQ(本文的定義是靜態(tài)電流IQ<15 μA) LDO。當根據(jù)IQ規(guī)格來進行選擇可提供一些很好的LDO電流消耗相關的初始信息,但IQ相同或近似的兩款LDO在動態(tài)性能方面可能差異很大。如果我們回想起來IQ的定義是沒有施加任何負載條件下的接地電流消耗,那么IQ就變成一個實際參數(shù)了。在實際案例中,可能更適宜于查看極輕載條件下的接地電流消耗(數(shù)微安至數(shù)百微安)。需要說明的是,在評估不同制造商的各種LDO產(chǎn)品后,不難發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)表中的IQ規(guī)格僅針對的是完美的空載條件,而非較真實的10至100 μA輸出負載。某些時候,知道與輸入電壓或溫度相關的接地電流特性也有實質意義。市場上某些穩(wěn)壓器在輸入電壓下降時接地電流明顯增大,LDO進入其壓降區(qū)。在選擇用于電池供電設備的LDO時,這可能是重要因素。其它意料之外的電流消耗可能對產(chǎn)品有負責影響,大幅縮短電池使用時間。如果應用在大部分時間處于空閑或休眠狀態(tài),僅消耗極小電流,這種意料之外的影響就尤為嚴重了。設計人員應常閱讀數(shù)據(jù)表的IQ規(guī)格,而且若有可能,在決定選擇某個特定LDO之前,還要審查相關的IQ與ILOAD對比圖表。
超低IQ LDO的動態(tài)性能參數(shù)
影響超低IQ LDO穩(wěn)壓器動態(tài)性能參數(shù)主要有兩項因素。一是使用的技術節(jié)點。安森美半導體的大多數(shù)超低IQ LDO采用的是先進的CMOS或BiCMOS技術,并提供針對低功耗、高速電源管理IC優(yōu)化的特定工藝流程。雖然恰當?shù)募夹g選擇必不可少,但很明顯的是,這還不能確保LDO穩(wěn)壓器具有良好的動態(tài)性能。確定最終性能的第二個關鍵是設計LDO時應用的設計技術,而這來自于此領域的設計經(jīng)驗。安森美半導體在這個領域擁有40多年的經(jīng)驗,最新世代的器件同時提供超低噪聲、良好的電源抑制比(PSRR)及超低IQ。為了詳細闡明這一點,下文將探討不同類型穩(wěn)壓器的動態(tài)性能?! ?/p>
不同類型的超低IQ LDO簡介
1) 恒定偏置LDO穩(wěn)壓器
傳統(tǒng)上的超低IQ CMOS LDO使用恒定偏置(constant biasing)原理。這表示在能夠提供的輸出電流范圍內(nèi),接地電流消耗保持相對恒定。如MC78LC或NCP551器件,各自的接地電流IGND(或靜態(tài)電流IQ)分別為1.5 μA和4 μA。這些器件非常適合性能要求相對不那么嚴格的電池供電應用。它們的主要劣勢是動態(tài)性能較差,如負載及線路瞬態(tài)、PSRR或輸出噪聲等。通??梢允褂幂^大的輸出電容來調(diào)節(jié)動態(tài)性能。圖1顯示了通過將輸出電容由1 μF增加至100 μF來改善MC78LC的負載瞬態(tài)過沖及欠沖。
但提升輸出電容COUT并不總是能夠提供想要的性能,甚至還可能更麻煩,因可能需要增加額外保護二極管,或某些應用要求快速設定時間、小尺寸方案或小浪涌電流。在這些情況下,推薦使用后文提到的一些更新的LDO。
2) 正比例偏置LDO穩(wěn)壓器
為了改善恒定偏置(恒定IGND) LDO較弱的動態(tài)性能,一些相對較新器件的接地電流與輸出電流成正比例地變化。這樣的LDO有如安森美半導體的NCP4681及NCP4624,兩者的典型靜態(tài)電流分別為1 μA和2 μA。圖2顯示了正比例IGND LDO所使用的概念。這些器件被設計為在輸出電流IOUT > 2 mA時IGND開始上升。這就確保LDO在輕載時的電流消耗實際上恒定,符合數(shù)據(jù)表中的IQ規(guī)格?! ?/p>
評論