安捷倫在(EDI CON)展示最新射頻微波與高速數(shù)字測試解決方案
日前,首屆電子設計創(chuàng)新會議(EDI CON2013)在京舉行。作為全球最大的測試測量公司,安捷倫科技(NYSE:A)是本次會議的白金贊助商,安捷倫以“為中國的未來培育創(chuàng)新設計”為本次會議主題,集結(jié)來自全球各地的專家和最新的測試應用方案亮相首屆電子設計創(chuàng)新會議。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/143179.htm在本次大會上,安捷倫共設有14個專題講座、8個專題討論以及超過10個主題的測試應用方案展示,參與大會的設計、測量與建模、系統(tǒng)工程和商業(yè)應用環(huán)節(jié),全面展示安捷倫在射頻微波與高速數(shù)字測試領域的最新測試應用方案,助力于為中國的未來培育創(chuàng)新設計?! ?/p>
安捷倫在此次展會上展示一系列技術上的創(chuàng)新產(chǎn)品。如針對國防、航空航天等高精尖領域發(fā)展的業(yè)界最高性能實時頻譜分析儀PXA,應對惡劣環(huán)境等現(xiàn)場測試的十合一射頻儀表Fieldfox,精確測量小信號的高清示波器9000H系列。
此外,安捷倫還專門展示了7個主題鮮明的測試應用方案,包括功放設計與測試、寬帶信號的產(chǎn)生與分析、高速數(shù)字設計和信號完整性測試分析、EMI一致性測試、EDA仿真設計、模塊化測試與應用,以及業(yè)界唯一的LTE 8X8信號生成與分析解決方案。
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