Mentor Graphics公司(納斯達(dá)克代碼：MENT)日前宣布，專用集成電路(ASIC)設(shè)計(jì)公司Open-Silicon采用帶Cell-Aware Test的Tessent^® TestKompress^®產(chǎn)品，改進(jìn)了片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)的測(cè)試品質(zhì)。使用Tessent TestKompress產(chǎn)品以后，Open-Silicon成功檢測(cè)出并解決了以前使用傳統(tǒng)方法檢測(cè)不到的缺陷。Open-Silicon還部署Tessent MemoryBIST產(chǎn)品，對(duì)嵌入式存儲(chǔ)器進(jìn)行全速測(cè)試、診斷和維修。

　　“隨著客戶轉(zhuǎn)至更小制程節(jié)點(diǎn)和更大片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)，檢測(cè)細(xì)微缺陷的挑戰(zhàn)愈加復(fù)雜，”Open-Silicon工程副總裁Taher Madraswala說(shuō)。“為滿足非常低DPM的需求，我們需要不僅能檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)單元邊界上的缺陷，還能捕獲單元內(nèi)缺陷的測(cè)試。Tessent Cell-Aware Test解決方案給我們提供了這樣的能力，同時(shí)又不會(huì)大幅提高測(cè)試成本。

　　Cell-Aware Test是一種晶體管級(jí)測(cè)試方法學(xué)，通過(guò)僅針對(duì)各標(biāo)準(zhǔn)單元內(nèi)部的特定短路、開(kāi)路及晶體管缺陷，從而克服了傳統(tǒng)固定和過(guò)渡故障模型及相關(guān)測(cè)試模式的限制，由此，大幅降低了缺陷(DPM)水平。

　　Open-Silicon為客戶提供經(jīng)充分測(cè)試的部件，而Mentor^® Cell-Aware Test的功能及Tessent MemoryBIST解決方案增強(qiáng)了他們向客戶提供更可靠芯片的能力。Open-Silicon使用Tessent TestKompress Cell-Aware Test功能檢測(cè)到了使用傳統(tǒng)硅片測(cè)試方法所未檢測(cè)到的單元內(nèi)缺陷，從而成功降低了其每百萬(wàn)缺陷部件數(shù)(DPM)。他們計(jì)劃部署該解決方案，以滿足對(duì)DPM敏感的客戶的需求。

　　“Cell-Aware Test給像Open-Silicon一樣需要降低DPM水平的公司帶來(lái)了價(jià)值，”Mentor Graphics產(chǎn)品營(yíng)銷總監(jiān)Steve Pateras說(shuō)。“我們?cè)诓粩嘣鰪?qiáng)我們的Tessent DFT解決方案，以實(shí)現(xiàn)最高的測(cè)試品質(zhì)，同時(shí)也在縮減開(kāi)發(fā)精力和生產(chǎn)測(cè)試成本。”