HID燈鎮(zhèn)流器的空間和成本節(jié)約解決方案
簡介
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/175036.htm高強(qiáng)度放電(HID)燈最初設(shè)計用于戶外和工業(yè)應(yīng)用,因其顯色特性已得到改進(jìn)且小尺寸已上市,目前已延伸至室內(nèi)應(yīng)用,如辦公室照明和零售燈飾。HID燈需要一個鎮(zhèn)流器來激發(fā)放電,并在燈啟動后限制住電流?;旌项l率全橋逆變器是HID燈鎮(zhèn)流器中一個較為常用的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),因為它可以通過方形波產(chǎn)生替代低頻電壓,只需單一逆變器級即可同樣控制輸出電壓的振幅。
然而,當(dāng)該逆變器在連續(xù)電流模式(CCM)下運行時須考慮MOSFET故障。 因此,逆變器應(yīng)在臨界電流模式下(CRM)運行以避免MOSEFT故障。HID燈點火后抗阻變得極低。 這種情況下,逆變器不可避免地要在連續(xù)電流模式(CCM)下運行,并出現(xiàn)擊穿電流。 因此,必須使用附加快速恢復(fù)二極管(FRD)來防止故障出現(xiàn)。 新型UniFET II MOSFET具有可靠的體二極管特性,其峰值反向恢復(fù)電流足夠低,能夠防止器件故障。 本文將介紹HID燈鎮(zhèn)流器混合頻率全橋逆變器的效能。為了驗證其有效性,使用150W室內(nèi)HID燈鎮(zhèn)流器進(jìn)行實驗并提供實驗結(jié)果。
混合頻率逆變器和故障機(jī)理
HID燈鎮(zhèn)流器的工作模式簡單分為2種狀態(tài):瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)。 瞬態(tài)下,燈抗阻變得極低,因此燈電壓降低以限制燈電流。 隨著燈抗阻的穩(wěn)定上升,燈電壓也逐漸增高,工作模式從瞬態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榉€(wěn)態(tài)。 峰值燈電流低于Ilimit之后,燈由恒定功率控制模式驅(qū)動。 鎮(zhèn)流器的運行必須遵循上述流程,圖1顯示HID燈鎮(zhèn)流器中的混合頻率全橋逆變器。 在圖1中,Q5為點火開關(guān),產(chǎn)生一個脈沖高壓將HID燈點亮。 混合頻率逆變器由高頻臂(包括MOSFET Q1和Q2以及附加二極管D1~D4)和低頻臂(包括IGBT Q3和Q4)組成。 由于燈只在點火后才會放電,因此需要一個點火電路。 Q5和變壓器T組成點火電路。 電源開啟后,Q5開始開關(guān)過程,一個超過3 kV的高電壓即通過變壓器T應(yīng)用到燈上。燈一旦通過高電壓點亮后,Q5的開關(guān)過程即停止,燈通過交流電壓方波發(fā)光。 變壓器T、電感器L以及電容器C的漏電感組成低通濾波器。 逆變器的運行分為4種模式,但其中2種模式反復(fù)交替。半個周期內(nèi),在低頻臂中,一個IGBT保持導(dǎo)通狀態(tài),另一個IGBT保持關(guān)斷狀態(tài),而在高頻臂中的一個MOSFET處于高頻開關(guān)狀態(tài)。 因此,平均燈電壓可通過控制高頻引腳中MOSFET的占空比得以控制。
圖1: HID燈鎮(zhèn)流器混合頻率逆變器
如果逆變器的高頻臂在連續(xù)電流模式(CCM)下工作,由于MOSFET體二極管反向恢復(fù)特性較差,在高端和低端開關(guān)中必然都會出現(xiàn)高電流峰值。 這種高電平電流實際上不存在擊穿條件,只是看起來像,因為高端開關(guān)和低端開關(guān)中的電流方向是相同的。 高電流峰值可觸發(fā)MOSFET結(jié)構(gòu)中的寄生雙極結(jié)型晶體管。 寄生雙極結(jié)型晶體管(BJT)導(dǎo)通后,由于負(fù)溫度系數(shù),會形成一個熱點且更多電流匯集其中,這最終將導(dǎo)致器件故障。 一個常見的解決方案是應(yīng)用阻斷二極管來阻止體二極管導(dǎo)通,在MOSFET兩端并聯(lián)額外的續(xù)流二極管,以減少峰值電流水平。 在圖1中,D1和D3是阻流二極管,需要較低的正向壓降;D2和D4是續(xù)流二極管,需要快速恢復(fù)特性。 這些二極管必然會阻止故障出現(xiàn),但是增加了電路復(fù)雜性和系統(tǒng)成本。
最新MOSFET技術(shù)
MOSFET體二極管的反向恢復(fù)特性遠(yuǎn)次于分立式快速恢復(fù)二極管。 功率MOSFET的體二極管反向恢復(fù)時間非常長,且反向恢復(fù)電荷非常大。 盡管其性能比較差,功率MOSFET的體二極管還是經(jīng)常在橋式電路中用作續(xù)流二極管。 正因為越來越多的應(yīng)用將MOSFET體二極管用作系統(tǒng)關(guān)鍵元件,才促使MOSFET體二極管特性有了很大的改進(jìn)。 通常來說,可以通過使用壽命控制過程來實現(xiàn)這個目的,這類似于分立式快速恢復(fù)二極管。 這一額外過程控制載流子的壽命,從而減少反向恢復(fù)電荷和反向恢復(fù)時間。 然而,該過程也帶來某些缺陷。 更多的壽命控制導(dǎo)致MOSFET導(dǎo)通電阻增大。 這與導(dǎo)致正向壓降增大的分立式快速恢復(fù)二極管的副作用類似。 另外一個負(fù)效應(yīng)是漏源極間的漏電流增大,但漏電流水平仍在可接受范圍內(nèi),并且在大多數(shù)情況下無關(guān)緊要。 因此,電氣特性的主要權(quán)衡點在于反向恢復(fù)性能和導(dǎo)通損耗。 在HID燈鎮(zhèn)流器混合頻率逆變器應(yīng)用中,較小的反向恢復(fù)電荷對于系統(tǒng)可靠性是非常重要的。 去除肖特基二極管(D1和D2)能夠減少導(dǎo)通損耗,以補(bǔ)償略有增加的MOSFET(Q1和Q2)導(dǎo)通電阻。 現(xiàn)在,重要的是Q1和Q2有了可以與分立式快速恢復(fù)二極管D2和D4不相上下的強(qiáng)壯體二極管性能。 為了實現(xiàn)更好的體二極管性能,開發(fā)了經(jīng)高度優(yōu)化的UniFET II MOSFET系列。 該系列改善了體二極管的耐受性并減少了輸出電容中的儲能,同時最大限度地減小如增加導(dǎo)通電阻等負(fù)面效應(yīng)。 特別是,極大改善了其峰值反向恢復(fù)電流Irr,不再會引起器件故障。 此外,其dv/dt抗干擾性能是普通MOSFET的兩倍多。 因此,在擊穿dv/dt模式下可承受兩倍以上的電流壓力。圖2展示了UniFET II MOSFET系列、傳統(tǒng)MOSFT(FQPF9N50C) 和分立式快速恢復(fù)二極管(BYV28X-500)的反向恢復(fù)性能。 顯然,UniFET II MOSFET系列的反向恢復(fù)特性優(yōu)于傳統(tǒng)MOSFET,甚至優(yōu)于快速恢復(fù)二極管(FRD) 的反向恢復(fù)特性。
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