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          能改進(jìn)動(dòng)圈表頭對(duì)小電流測(cè)量的MOSFET

          作者: 時(shí)間:2006-01-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            以前曾經(jīng)有一個(gè)設(shè)計(jì)實(shí)例介紹了用動(dòng)圈模擬小于 1A的十分有趣和有用的方法(參考文獻(xiàn) 1)。這種設(shè)計(jì)在運(yùn)轉(zhuǎn)的靈敏度和范圍選擇方面有相當(dāng)好的靈活性,并且簡(jiǎn)化了分流電阻器的選擇工作。雖然該設(shè)計(jì)使用了一支雙極晶體管來驅(qū)動(dòng)電表,但在某些情況下, 管會(huì)是更好的選擇。原始電路中用一個(gè)壓控吸收器來雙極晶體管的射極,而用晶體管的集電極電流驅(qū)動(dòng)模擬。雙極晶體管的射極和集電極電流(分別是IE和IC)并不相等,原因是射極電流中還包含有基極電流IR。

            這些電流之間的關(guān)系可以用IE=IC+IB以及IC=IE-IB來表示?;鶚O電流是否會(huì)對(duì)測(cè)量精度造成不利影響要看IB的強(qiáng)度以及共射極電流增益b的大小,因?yàn)榛鶚O電流 IB = IC/b。當(dāng)b大于 100時(shí),基極電流對(duì)于射極電流的作用可以忽略。但是,b有時(shí)會(huì)很小。例如,通用硅NPN 管BC182在室溫下的小電流b值只有40。如果在晶體管集電極接一個(gè)滿量程15 mA的表頭,則最小b時(shí)的滿量程基極電流將達(dá)0.375 mA。從集電極電流中減去基極電流會(huì)產(chǎn)生2.5%的誤差。

            但是,假如你使用一個(gè)滿量程偏轉(zhuǎn)只要150mA 的動(dòng)圈表頭,則測(cè)量誤差將大大增加,因?yàn)楫?dāng)集電極電流減小時(shí),b也在減小。對(duì)BC182來說,當(dāng)集電極電流從數(shù)毫安降至 200mA 時(shí),電流增益b也會(huì)降低 0.6倍,因而影響到表頭讀數(shù)的準(zhǔn)確性。


            為解決這一問題,電路的準(zhǔn)確性,可以用一支 N 溝道 代替 BC182,如 BSN254(圖 1)。由于 管不需要柵極電流,因此它吸入的電流ID 就等于其源極電流IS。當(dāng)為這個(gè)電路選擇 MOSFET 管時(shí),要注意管子的柵-源閾值電壓應(yīng)盡可能低。例如,BSN254在室溫下的柵-源閾值電壓范圍為0.8V至2V。電路的其余部分的處理與原設(shè)計(jì)實(shí)例相同,即要在 R1 上獲得最大1V電壓降,就要按下列方法計(jì)算RSENSE2:RSENSE2 = (1V/IMETER),其中 RSENSE的單位為歐姆,1V表示R1 上的壓降,IMETER 為電表滿量程讀數(shù),單位為安培。注意,1kΩ阻值的R1將在檢測(cè)電阻RSENSE1上產(chǎn)生10V/1A的輸出。在本應(yīng)用中,100 mA在RSENSE1上產(chǎn)生0.1V電壓,因此R1上的電壓就對(duì)應(yīng)于表頭的1V滿量程偏轉(zhuǎn)電壓。

          參考文獻(xiàn)
          Bilke, Kevin, "Moving-coil meter measures low-level currents," EDN, March 3, 2005, pg 72.

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