基于功率MOSFET的激光器外觸發(fā)系統(tǒng)研制
圖3為功率MOSFET器件的工作原理電路示意圖。圖3(a)中,RG和CGS是影響MOSFET導(dǎo)通延時的主要參數(shù);漏柵極電容CGD是造成開關(guān)動作過程中柵極電壓受干擾的主要參數(shù);漏源極電容CDS是影響關(guān)斷時間的主要參數(shù)。MOSFET器件轉(zhuǎn)換過程有2個:導(dǎo)通轉(zhuǎn)換和關(guān)斷轉(zhuǎn)換。導(dǎo)通轉(zhuǎn)換過程的漏源電壓VDS、漏極電流iD、柵源電壓VGS和與柵極電流iG隨時間t的變化關(guān)系如圖3(b)所示。導(dǎo)通轉(zhuǎn)換過程分成4個階段,各個階段分別是:本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/187836.htm
(1)t0~t1階段:柵極驅(qū)動電流iG對CDS和CGS充電,使CGS上的電壓從0上升到MOSFET導(dǎo)通閾值VGS(th)。
(2)t1~t2階段:柵源電壓VGS繼續(xù)以指數(shù)規(guī)律上升,超過MOSFET導(dǎo)通闡值VGS(th)達(dá)到Va,在VGS超過VGS(th)后,漏極電流開始增長,并達(dá)到最終的輸出電流Io。在這一過程中,由于電壓與電流重疊,MOSFET功耗最大。
(3)t2~t3階段:從t2時刻開始,MOSFET漏源電壓VDS開始下降,引起從漏極到柵極的密勒電容效應(yīng),使得VGS不能上升而出現(xiàn)平臺,在t3時刻漏源電壓下降到最小值。
(4)t3~t4階段:在這一區(qū)間柵源電壓VGS從平臺上升到最后的驅(qū)動電壓。上升的柵壓使漏源電阻RDS(on)減小,t4以后MOSFET進(jìn)入導(dǎo)通狀態(tài)。
MOSFET器件的截止轉(zhuǎn)換過程與上面的過程相反。由上面的分析可知對柵極驅(qū)動電路的要求主要有:
(1)驅(qū)動信號的脈沖前、后沿都要陡峭。
(2)對功率MOSFET柵極的充放電回路時間常數(shù)要小,以提高功率MOSFET器件的開關(guān)速度。
(3)驅(qū)動電流為柵極電容的充放電電流,驅(qū)動電流要大,才能使開關(guān)波形的上升沿和下降沿更快。
選用MOSFET器件IRLML2803,查其特性曲線圖可得:在VDS=15 V、VGS=12 V時,總柵極電荷QG≈3.7 nC,則柵極電容C=QG/VGS=3.7 nC/12 V≈0.3 nF=300 pF。
MOSFET導(dǎo)通和截止的速度與MOSFET柵極電容的充電和放電速度有關(guān)。MOSFET柵極電容、導(dǎo)通和截止時間與MOSFET驅(qū)動器的驅(qū)動電流的關(guān)系可以表示為:
dT=(dV×C)/I
式中,dT是導(dǎo)通/截止時間,dV是柵極電壓,C是柵極電容(從柵極電荷值),I是峰值驅(qū)動電流(對于給定電壓值)。
IRLML2803導(dǎo)通/截止時間是4 ns,則I=QG/dT=3.7 nC/4 ns≈0.9 A。即由以上公式得出的峰值驅(qū)動電流為0.9 A,同時還需要考慮在MOSFET驅(qū)動器和功率MOSFET柵極之間使用的外部電阻,這會減小驅(qū)動?xùn)艠O電容的峰值充電電流,所以選擇峰值輸出電流大于0.9 A的驅(qū)動器。系統(tǒng)中采用的是4.5 A高峰值輸出電流的同相驅(qū)動器TC4424A,經(jīng)實驗驗證滿足快上升沿信號輸出要求。
3 測試結(jié)果與分析
3.1 觸發(fā)信號光纖傳輸轉(zhuǎn)換測試
激光器外觸發(fā)系統(tǒng)采用光纖傳輸和收發(fā)技術(shù),由于其本身是由絕緣材料制成,所以具有很好的高電壓隔離能力,同時還具有很強的抗干擾能力,多路光纖信號傳輸?shù)耐叫砸卜浅:?,滿足對信號高壓隔離和同步性的要求。
圖4為激光器外觸發(fā)單元產(chǎn)生的信號波形圖。圖4(a)、圖4(b)中通道2均顯示的是工作頻率50Hz的激光器閃燈觸發(fā)信號(前者是輸出個數(shù)為50的脈沖序列,后者是單個輸出脈沖),它在控制信號產(chǎn)生單元內(nèi)由PC機編程產(chǎn)生,經(jīng)脈沖變壓器隔離、電/光轉(zhuǎn)換、光纖傳輸處理輸入至觸發(fā)單元,再經(jīng)過光/電轉(zhuǎn)換、功率晶體管驅(qū)動放大,由高耐壓脈沖變壓器隔離輸出至激光器,其上升時間Tr在200 ns以內(nèi),主要是由脈沖變壓器的輸出上升時間確定。
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