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          Multisim 10在差動(dòng)放大電路分析中的應(yīng)用

          作者: 時(shí)間:2016-02-25 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            在自動(dòng)控制系統(tǒng)中,往往需將一些變化緩慢的物理量(如溫度、轉(zhuǎn)速的變化)轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的電信號,并通過直流放大器進(jìn)行放大處理。直接耦合放大電路雖能放大交、直流信號,但電源電壓的波動(dòng),晶體管參數(shù)隨溫度變化等因素會(huì)導(dǎo)致電路出現(xiàn)“零點(diǎn)漂移”。是一種利用電路結(jié)構(gòu)參數(shù)的對稱性有效抑制“零點(diǎn)漂移”的直流放大器,它對差模信號具有放大能力,而對共模信號具有抑制作用。典型由2個(gè)參數(shù)完全一致的單管共發(fā)射極電路組成。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201602/287411.htm

            Multisim 10是美國國家儀器公司(NI公司)推出的功能強(qiáng)大的電子電路仿真設(shè)計(jì)軟件,具有豐富的新型元器件及虛擬儀器、強(qiáng)大的Spice仿真、數(shù)據(jù)可視化及分析測試功能,可對模擬、數(shù)字、自動(dòng)控制、射頻、單片機(jī)等各種電路進(jìn)行原理圖設(shè)計(jì)、仿真分析及功能測試。Multis-im 10提供了一個(gè)強(qiáng)大的原理圖捕獲和交互式仿真平臺,電路的設(shè)計(jì)調(diào)試、元器件及測試儀器的調(diào)用、各種分析方法的使用直觀方便,測試參數(shù)精確可靠,是應(yīng)用廣泛的優(yōu)秀EDA系統(tǒng)。本文以典型為例,主要探討Multisim 10的多種分析方法在電子電路仿真設(shè)計(jì)中的應(yīng)用。

            1 電路設(shè)計(jì)

            在Multisim 10中建立了如圖1所示的典型差動(dòng)放大電路。T1,T2均為NPN晶體管(2N2222A),電流放大系數(shù)β設(shè)置為80。撥動(dòng)開關(guān)J1,J2可選擇在差動(dòng)放大電路的輸入端加入直流或交流信號。數(shù)字萬用表用于測量直流輸出電壓,示波器用于觀測交流輸入/輸出電壓波形,測量探針用于仿真時(shí)實(shí)時(shí)顯示待測支路的電壓和電流。

              

           

            實(shí)際電路中T1,T2宜選用差分對管,晶體管的靜態(tài)電流ICQ不宜超過1 mA。由ICQ可選取兩管共用的發(fā)射極電阻Re,且Re不影響差模電壓放大倍數(shù),僅對共模信號有較強(qiáng)的負(fù)反饋?zhàn)饔茫虼丝梢杂行У匾种啤傲泓c(diǎn)漂移”,穩(wěn)定靜態(tài)工作點(diǎn)。由于兩個(gè)放大器的參數(shù)不可能完全一致,因此通過電位器Rp對電路進(jìn)行調(diào)零。

            基極電阻Rb1,Rb2應(yīng)根據(jù)差模輸入電阻的要求選定。選取集電極電阻Rc1、Rc2時(shí)應(yīng)使靜態(tài)工作點(diǎn)靠近負(fù)載線的中點(diǎn)。根據(jù)輸入端和輸出端接“地”情況的不同,差動(dòng)放大電路有以下4種不同接法:雙端輸入雙端輸出、雙端輸入單端輸出、單端輸入雙端輸出、單端輸入單端輸出。

            2 靜態(tài)工作點(diǎn)分析

            圖1差動(dòng)放大電路靜態(tài)時(shí)因輸入端不加信號,T1,T2的基極電位近似為零,因此電位器Rp兩端的電位均為-UBE(對于硅管約為-0.7 V),如電位器Rp的滑動(dòng)端處于中點(diǎn)位置,計(jì)算靜態(tài)工作點(diǎn)為:

              

           

            Multisim 10中直流工作點(diǎn)分析方法是對電路進(jìn)行進(jìn)一步分析的基礎(chǔ),主要用來計(jì)算電路的靜態(tài)工作點(diǎn),此時(shí)電路中的交流電源將被置為零,電感短路,電容開路。進(jìn)行靜態(tài)工作點(diǎn)分析時(shí)需將電路的節(jié)點(diǎn)編號顯示在電路圖上(見圖1),并需要選擇待分析的節(jié)點(diǎn)編號。依次執(zhí)行Simulate/Analyses/DC Operating Point(直流工作點(diǎn))分析命令,設(shè)置圖1中1,2,u01,u02,Iprobe2,Iprobe3為輸出節(jié)點(diǎn)(變量),得到圖2所示的靜態(tài)工作點(diǎn)分析結(jié)果:Ie=1.48 mA,Ic1=Ic2=0.732 mA,Uc1=Uc2=4.68 V,所測參數(shù)與式(1)~式(3)分析結(jié)果基本一致。

              

           

            3 參數(shù)掃描分析

            參數(shù)掃描分析用來研究電路中某個(gè)元件的參數(shù)在一定范圍內(nèi)變化時(shí)對電路性能的影響。選擇圖1中電阻Re為參數(shù)掃描分析元件,分析其阻值變化對電路輸出波形的影響。圖1差動(dòng)放大電路設(shè)置為交流信號輸入方式,設(shè)置正弦波輸入信號頻率為1 kHz、幅值為150 mV,依次執(zhí)行Simulate/Analyses/Parametet Sweep(參數(shù)掃描)命令,設(shè)置掃描方式為Linear(線性掃描),設(shè)置電阻Re掃描起始值為5 kΩ,掃描終值為7.5 kΩ,掃描點(diǎn)數(shù)為3,設(shè)置輸出節(jié)點(diǎn)為u01,得到如圖3(a)所示參數(shù)掃描分析結(jié)果。當(dāng)Re=5 kΩ時(shí),由于T1管的靜態(tài)工作點(diǎn)偏高,其輸出電壓u01產(chǎn)生了飽和失真??梢姡琑e阻值的變化影響差動(dòng)放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)。

              

           

            4 溫度掃描分析

            溫度掃描分析用來研究溫度變化對電路性能的影響,相當(dāng)于在不同的工作溫度下進(jìn)行多次仿真。

            圖1差動(dòng)放大電路設(shè)置為交流信號輸入方式,設(shè)置正弦波輸入信號頻率為1 kHz、幅值為10 mV,依次執(zhí)行Simulate/Analyses/Tempera-ture Sweep(溫度掃描)命令,設(shè)置掃描方式為List(取列表值掃描),設(shè)置掃描溫度為0℃,27℃,120℃,設(shè)置輸出節(jié)點(diǎn)為u01得到如圖3(b)所示溫度掃描分析結(jié)果。隨著溫度的升高,T1管的輸出電壓幅值變小??梢?,故溫度變化會(huì)影響單管放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)。

            由于溫度的變化與T1,T2參數(shù)的變化相同,集電極靜態(tài)電流、電位的變化也相等,故輸出電壓u0的變化為零,可將溫度變化等效為共模信號,因此差動(dòng)放大電路對溫度變化產(chǎn)生的“零點(diǎn)漂移”具有抑制作用。

            5 動(dòng)態(tài)參數(shù)分析

            圖1電路的差模電壓放大倍數(shù)Aud與單管共射電路相同,且Aud由輸出方式?jīng)Q定,而與輸入方式無關(guān)。

            計(jì)算雙端輸出差模放大倍數(shù)為:

              

           

            5.1 傳遞函數(shù)分析

            依據(jù)傳遞函數(shù)分析可計(jì)算電路中輸入源與兩個(gè)節(jié)點(diǎn)的輸出電壓或一個(gè)電流輸出變量之間的直流小信號傳遞函數(shù),同樣可以用于計(jì)算輸入和輸出的阻抗。

            將圖1電路分別設(shè)置為直流差模、直流共模信號輸入方式,依次執(zhí)行Simulate/Analyses/Transfer Function Analysis(傳遞函數(shù)分析)命令,設(shè)置V3為輸入電壓源,設(shè)置輸出節(jié)點(diǎn)為u01,分別得到如圖4(a),4(b)所示傳遞函數(shù)分析結(jié)果。由圖4測得Aud1=-12.4,Auc1=-0.64,所測參數(shù)與式(5)、式(6)分析結(jié)果基本一致。

              

           

            5.2 直流信號測試

            撥動(dòng)開關(guān)J1,J2,在圖1電路中兩輸入端加入直流差模信號ui1=+0.1V,ui2=-0.1V,通過數(shù)字萬用表測得uo1=2.246V,uo2=7.115V。計(jì)算Aud=(2.246-7.115)/0.2=-24.345,Aud1=(2.246-4.68)/0.2=-12.17,Aud2=(7.115-4.68)/0.2=12.175。在圖1電路中兩輸入端加入直流共模信號ui1=ui2=0.1 V,通過數(shù)字萬用表測得uo1=uo2=4.616 V。計(jì)算Auc1=Auc2=(4.616-4.68)/0.1=-0.64,Auc為零。直流信號測試參數(shù)與式(4)~式(6)分析結(jié)果基本一致。

            5.3 交流信號測試

            5.3.1 單端輸出

            在圖1電路中兩輸入端分別加入交流差模信號(函數(shù)信號發(fā)生器的輸出端接ui1、地端接ui2,構(gòu)成單端輸入方式)及交流共模信號(函數(shù)信號發(fā)生器的輸出端同時(shí)接ui1,ui2),設(shè)置正弦波輸入信號頻率為1 kHz、幅值為10 mV。

            通過示波器觀測差模、共模信號輸入波形和單端輸出波形如圖5所示。由示波器測得:差模單端輸出電壓的幅值約為119mV,Aud2=11.9;共模單端輸出電壓的幅值約為6.4 mV,Auc1=-0.64。單端輸出測試參數(shù)與式(5)、式(6)分析結(jié)果基本一致。

              

           

            5.3.2 雙端輸出

            由于Multisim 10提供的示波器不能直接測量uo兩端的電壓波形,因此需通過后處理器對雙端輸出電壓進(jìn)行觀測。在進(jìn)行后處理之前需要對電路進(jìn)行瞬態(tài)分析,然后將瞬態(tài)分析結(jié)果進(jìn)行后處理。瞬態(tài)分析是一種非線性電路分析方法,可用來分析電路中某一節(jié)點(diǎn)的時(shí)域響應(yīng)。在進(jìn)行瞬態(tài)分析時(shí),Multisim 10會(huì)根據(jù)給定的時(shí)間范圍,選擇合理的時(shí)間步長,計(jì)算所選節(jié)點(diǎn)在每個(gè)時(shí)間點(diǎn)的輸出電壓,通常以節(jié)點(diǎn)電壓波形作為瞬態(tài)分析的結(jié)果。圖1電路設(shè)置為交流差模信號輸入方式,設(shè)置正弦波輸入信號頻率為1 kHz、幅值為10 mV,依次執(zhí)行Simulate/An-alyses/Transient Analysis(瞬態(tài)分析)命令,選擇圖1電路中節(jié)點(diǎn)uo1,uo2的電壓作為輸出變量,得到如圖6所示的瞬態(tài)分析結(jié)果??梢姡瑄o1,uo2大小相等、相位相反。后處理器(Postprocessor)是專門對仿真結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步計(jì)算處理的工具,不僅能對仿真得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行各種運(yùn)算,還能對多個(gè)曲線或數(shù)據(jù)之間進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理,并將結(jié)果繪制到曲線圖或圖表中,繪制的結(jié)果表現(xiàn)為“軌跡線”的形式。

            依次執(zhí)行Simulate/Postprocessor(后處理器)命令,選擇對圖6瞬態(tài)分析結(jié)果中兩個(gè)節(jié)點(diǎn)(uo1,uo2)輸出電壓進(jìn)行減法運(yùn)算,得到的差模信號雙端輸出電壓uo波形如圖7所示。由圖7可測得uo的幅值約為242 mV,計(jì)算Aud=-24.2,雙端輸出測試參數(shù)與式(4)分析結(jié)果基本一致。圖1電路設(shè)置為交流共模信號輸入方式,通過瞬態(tài)分析和后處理器測得共模信號雙端輸出電壓uo幅值僅為0.062μV,Auc=6.2×10-6。可見,差動(dòng)放大電路對共模信號具有很好的抑制作用。

              

           

            6 結(jié)語

            Multisim 10具有強(qiáng)大的電路設(shè)計(jì)和仿真分析功能,以典型差動(dòng)放大電路為例,利用直流工作點(diǎn)分析和傳遞函數(shù)分析對電路的靜態(tài)工作點(diǎn)、差模及共模電壓放大倍數(shù)的仿真數(shù)據(jù)和真實(shí)值進(jìn)行比較,利用參數(shù)掃描及溫度掃描分析了電路參數(shù)變化對輸出波形的影響,利用瞬態(tài)分析、后處理器分析對實(shí)際應(yīng)用中難以觀測的雙端輸出電壓波形進(jìn)行了測試,電路各項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)均與真實(shí)值相符,提高了電路的設(shè)計(jì)和分析效率。研究表明,利用Multisim 10進(jìn)行電子電路計(jì)算機(jī)仿真設(shè)計(jì),不僅速度快,效率高,參數(shù)測試精確可靠,而且可廣泛應(yīng)用于電氣控制、電子信息、通信工程、自動(dòng)化等各種電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域。



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