泰克公司日前宣布，泰克公司高級(jí)設(shè)計(jì)工程師Kan Tan與泰克首席工程師John Pickerd共同撰寫的《防止S參數(shù)級(jí)聯(lián)時(shí)失真的插值程序》(Interpolation Procedure For Cascading S-Parameters To Prevent Aliasing)一文被“2013 IEEE 國(guó)際電子測(cè)量與儀器學(xué)術(shù)會(huì)議（ICEMI2013）”錄用，同時(shí)這兩位技術(shù)專家將在8月16-19日于哈爾濱舉辦的“ICEMI2013”上發(fā)表演講，并通過泰克的串行數(shù)據(jù)鏈路分析（SDLA）工具及設(shè)備為現(xiàn)場(chǎng)觀眾演示這種“通過對(duì)S參數(shù)再采樣來防止S參數(shù)級(jí)聯(lián)過程中產(chǎn)生的失真”的具體方法。

S參數(shù)是為了對(duì)射頻元器件的線性特性進(jìn)行分析和建模而開發(fā)的一種方法。在把多個(gè)獨(dú)立的器件級(jí)聯(lián)起來做成一個(gè)比較復(fù)雜的系統(tǒng)時(shí)，S參數(shù)在分析、建模和設(shè)計(jì)的過程中起著重要的作用。在高速串行數(shù)據(jù)鏈路系統(tǒng)中，一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng)可能由多個(gè)子系統(tǒng)組成，每個(gè)子系統(tǒng)可以用一個(gè)S參數(shù)集表示，必須把這些S參數(shù)集組合起來，才能獲得整個(gè)系統(tǒng)的模型。

在將這些S參數(shù)集組合時(shí)，S參數(shù)數(shù)據(jù)必須覆蓋所需帶寬，并且必須擁有足夠精細(xì)的頻率分辨率，以防止失真。也就是說，S參數(shù)數(shù)據(jù)的頻率分辨率必須足夠精細(xì)，以提供足夠長(zhǎng)的時(shí)間間隔，能夠覆蓋脈沖響應(yīng)時(shí)間周期外加反射時(shí)間周期。雖然每一個(gè)模塊的所有S參數(shù)數(shù)據(jù)都可能有合適的頻率分辨率，足以覆蓋時(shí)間間隔，但在把這些模塊以級(jí)聯(lián)方式結(jié)合在一起時(shí)，原有的頻率分辨率可能會(huì)變得不夠，不能覆蓋足夠的時(shí)間間隔，這將導(dǎo)致S參數(shù)集出現(xiàn)相位失真。

泰克專家的《防止S參數(shù)級(jí)聯(lián)時(shí)失真的插值程序》一文詳細(xì)介紹了防止S參數(shù)級(jí)聯(lián)時(shí)出現(xiàn)相位失真的具體方法，通過對(duì)每個(gè)模塊的各個(gè)S參數(shù)重新采樣，可提供更小的頻率間隔，組合后的S參數(shù)將獲得更高的時(shí)間間隔來滿足整個(gè)脈沖響應(yīng)加反射所需的時(shí)間周期，來防止相位失真。在執(zhí)行再采樣時(shí)，可選擇在頻域中執(zhí)行插補(bǔ)或通過插補(bǔ)幅度及相位成分等方式來完成。本文還列舉了一個(gè)級(jí)聯(lián)反嵌和嵌入實(shí)例來演示這種防止失真的方法。

這種先進(jìn)的方法是基于配備有SDLA軟件的泰克DSA/DPO/MSO 70000系列實(shí)時(shí)示波器的SDLA可視化儀（Visualizer）進(jìn)行模擬和驗(yàn)證的。泰克SDLA可視化儀應(yīng)用在測(cè)量電路反嵌、模擬電路嵌入和接收機(jī)均衡等領(lǐng)域，可為計(jì)算機(jī)、通信和內(nèi)存總線提供完整的仿真和測(cè)量環(huán)境。

IEEE國(guó)際電子測(cè)量與儀器學(xué)術(shù)會(huì)議(ICEMI)是兩年一度的學(xué)術(shù)盛會(huì)，從1992年至今已成功舉辦過十屆，為電子測(cè)量與儀器領(lǐng)域的發(fā)展現(xiàn)狀和前景的研討及尖端技術(shù)的交流搭建了一個(gè)有效的平臺(tái)。每一屆ICEMI會(huì)議都會(huì)向全球從事測(cè)量與儀器儀表研究的專業(yè)人士征稿，邀請(qǐng)他們分享其最新的研究成果。

“本次《防止S參數(shù)級(jí)聯(lián)時(shí)失真的插值程序》一文能夠被ICEMI錄用，充分體現(xiàn)了ICEMI對(duì)泰克技術(shù)專家一直致力于推動(dòng)測(cè)試測(cè)量行業(yè)創(chuàng)新的肯定。泰克將繼續(xù)秉承多年來的創(chuàng)新傳統(tǒng)，提供更完善的技術(shù)和應(yīng)用，同時(shí)加強(qiáng)與各方的合作，積極推進(jìn)行業(yè)的長(zhǎng)期發(fā)展。”泰克亞太區(qū)市場(chǎng)總監(jiān)王中元(Felix Wong)表示。

關(guān)于ICEMI2013
IEEE國(guó)際電子測(cè)量與儀器學(xué)術(shù)會(huì)議是兩年一度的學(xué)術(shù)盛會(huì)，從1992年至今已成功舉辦過十屆，為電子測(cè)量與儀器領(lǐng)域的發(fā)展現(xiàn)狀和前景的研討及尖端技術(shù)的交流搭建了一個(gè)有效的平臺(tái)。來自世界各地的數(shù)百位專家、教授、學(xué)者和工程技術(shù)人員在此歡聚一堂，交流信息、研討問題、促進(jìn)了相互間的了解和友誼。ICEMI2013將于2013年8月16~19日在哈爾濱金谷大廈舉辦，與此同時(shí)，2013首屆自動(dòng)測(cè)試技術(shù)論壇暨自動(dòng)測(cè)試技術(shù)成就展也將在同一時(shí)間在金谷大廈舉辦。

關(guān)于泰克公司
60多年以來，工程師們不斷向泰克尋求測(cè)試，測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案以應(yīng)對(duì)設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，提高生產(chǎn)效率，大幅縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。泰克公司是一家領(lǐng)先的測(cè)試儀器提供商，為專注于電子設(shè)計(jì)、制造及先進(jìn)技術(shù)開發(fā)的工程師提供支持。泰克公司的總部設(shè)在美國(guó)俄勒岡州畢佛頓，為全球范圍內(nèi)的客戶提供備受贊譽(yù)的服務(wù)和支持。