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          TRL微波器件測(cè)量去嵌入校準(zhǔn)--原理詳解

          作者: 時(shí)間:2018-07-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          前言:該教程是本人2012年跟安捷倫工程師討論微波器件去嵌入技術(shù)時(shí)準(zhǔn)備的,當(dāng)時(shí)討論主題如何解決TRL去嵌入算法頻率限制問題(已申請(qǐng)專利),現(xiàn)在摘取其中TRL算法原理部分,重新整理與大家分享。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201807/383973.htm

          微波中常用的校準(zhǔn)方法有兩種:

          · SOLT校準(zhǔn),即短路-開路-負(fù)載-直通校準(zhǔn),適用同軸接頭,如衰減器、低噪放等。通過1個(gè)傳輸標(biāo)準(zhǔn)件和3個(gè)反射標(biāo)準(zhǔn)件修正12項(xiàng)誤差模型。

          · TRL校準(zhǔn),即直通-反射-延時(shí)校準(zhǔn),適用非同軸接頭測(cè)量,如微帶線、共面波導(dǎo)等。通過測(cè)量2個(gè)傳輸標(biāo)準(zhǔn)件和1個(gè)反射標(biāo)準(zhǔn)件來決定8項(xiàng)誤差模型。

          相比SOTL 而言,TRL由于校準(zhǔn)件制作成本低、校準(zhǔn)精度高等優(yōu)點(diǎn)而得到廣泛的應(yīng)用。下面首先對(duì)TRL校準(zhǔn)算法進(jìn)行介紹。

          (1) 校準(zhǔn)件和測(cè)量件

          一套完整的TRL校準(zhǔn)裝置包含三個(gè)校準(zhǔn)件和一個(gè)測(cè)量夾具,圖中DUT表示待測(cè)件(device under test)。

          需要指出的是,直通校準(zhǔn)件包含的傳輸線與加載有DUT 夾具的傳輸線等長(zhǎng),延時(shí)校準(zhǔn)件包含的傳輸線比直通校準(zhǔn)件包含的傳輸線要長(zhǎng),長(zhǎng)度記為l,反射件包含的傳輸線與直通件包含的傳輸件等長(zhǎng),特別的,反射校準(zhǔn)件一般是通過傳輸線末端開路或短路實(shí)現(xiàn)。

          由于加載DUT的夾具不僅包含同軸到傳輸線的接口轉(zhuǎn)換,還包含一定長(zhǎng)度的傳輸線,實(shí)際測(cè)試時(shí)必須考慮這兩部分對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

          (2) 誤差模型

          為扣除夾具帶來的影響,需采用精確的誤差模型對(duì)夾具的頻率特性進(jìn)行描述。從電路加載的角度來看,直通、延時(shí)和反射校準(zhǔn)件可以看做DUT分別是長(zhǎng)度為零的傳輸線、長(zhǎng)度為l的傳輸線以及特定阻抗的集總器件(并聯(lián)或串聯(lián)接入傳輸線)時(shí)的特殊夾具,可以用S參數(shù)分別表示如下

          聰明的讀者可能已經(jīng)猜到,通過測(cè)量三個(gè)校準(zhǔn)件的S參數(shù),大概可以反推出夾具中除去DUT的剩余部分頻率響應(yīng)吧。

          Bingo!考慮到夾具與DUT 部分相互級(jí)聯(lián),為方便推導(dǎo),特將S參數(shù)轉(zhuǎn)化為T參數(shù)對(duì)夾具各部分進(jìn)行表征。如下圖所示,TRL校準(zhǔn)的誤差模型包含a, b, c, r, α, β, ε, ρ 八個(gè)參數(shù)。

          記測(cè)量參考面和校準(zhǔn)參考面之間包含的夾具部分分別為Fixture A 和Fixture B,其中測(cè)量參考面位于VNA 線纜同軸接口與夾具相連的位置(虛線表示),校準(zhǔn)參考面位于DUT 的兩端(點(diǎn)劃線表示),可將校準(zhǔn)件和夾具的組成部分分別列表如下

          根據(jù)微波網(wǎng)絡(luò)理論,加載有DUT 夾具的測(cè)量參數(shù)滿足

          通過矩陣運(yùn)算不難得到:

          可以看出,雖然誤差模型中包含八個(gè)參數(shù),但rρ 可合并為一個(gè)變量求解,因此僅需七個(gè)量就可以完成夾具的去嵌入運(yùn)算,下面具體介紹通過三次測(cè)量確定七個(gè)未知量的過程。

          (3) 校準(zhǔn)步驟

          第一步: 開展四次測(cè)量,得到三個(gè)校準(zhǔn)件的S參數(shù)和待測(cè)件夾具S參數(shù)

          第二步,將S參數(shù)轉(zhuǎn)化為T參數(shù)

          第三步,利用直通、延時(shí)校準(zhǔn)件T參數(shù)進(jìn)行部分求解

          第四步,補(bǔ)充反射校準(zhǔn)件T參數(shù)進(jìn)行完全求解

          第五步,將T參數(shù)轉(zhuǎn)化為S參數(shù)

          鑒于篇幅有限,第三步和第四步的具體推導(dǎo)過程就不在這里給出,里面主要涉及到兩次方程根的判別,分別于同軸到傳輸線的轉(zhuǎn)換以及反射校準(zhǔn)件的終端負(fù)載特性有關(guān),具體可以參考以下教程(公眾號(hào)文章2017-02-01,測(cè)量去嵌入校準(zhǔn)--夾具設(shè)計(jì)),如果大家真的想要掌握TRL校準(zhǔn)技術(shù),必須要自己手動(dòng)進(jìn)行公式推導(dǎo)(沒有想得那么麻煩,僅涉及基本微波電路和高等數(shù)學(xué)知識(shí))。

          (4) 注意事項(xiàng)

          · 直通線和延時(shí)線之間插入相位差須在20度至160之間,否則,容易造成測(cè)量相位模糊。最優(yōu)相位差值一般取90度。

          · 兩反射標(biāo)準(zhǔn)件終端的反射系數(shù)必須相同,最好接近于1。



          關(guān)鍵詞: TRL微波器件 測(cè)量

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