氮化鎵的發(fā)展趨勢及應(yīng)用
與硅器件相比,由于氮化鎵的晶體具備更強的化學(xué)鍵,因此它可以承受比硅器件高出很多倍的電場而不會崩潰。這意味我們可以把晶體管的各個電端子之間的距離縮短十倍。這樣可以實現(xiàn)更低的電阻損耗,以及電子具備更短的轉(zhuǎn)換時間。總的來說,氮化鎵器件具備更快速的開關(guān)、更低的功率損耗及更低的成本優(yōu)勢。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201808/387805.htm性能優(yōu)越
優(yōu)越的功率器件必需具備以下6個特性:1)器件需要具備更低的傳導(dǎo)損耗、更低的阻抗;2)開關(guān)必需更快速并在硬開關(guān)應(yīng)用中如降壓轉(zhuǎn)換器具備更低的損耗;3)更低的電容、更少充電及放電損耗;4)驅(qū)動器使用更少功率;5)器件更細小(縮小占板面積)及6)因為需要更高輸出電流和功率密度而需要更低的熱阻。
我們?yōu)楣こ處煄砜芍С忠庀氩坏降娜骂I(lǐng)域的功率器件。在電阻方面,之前我們在DC/DC轉(zhuǎn)換器并聯(lián)氮化鎵場效應(yīng)晶體管(eGaN FET)從而實現(xiàn)更高的輸出電流??墒?,這會增加元件的數(shù)量、成本及復(fù)雜性并降低功率密度。與第二代氮化鎵器件相比,第四代eGaN FET可以大大降低阻抗,從而使得基于eGaN FET 的DC/DC轉(zhuǎn)換器具備更大電流及高功率密度。如圖1所示,采用第四代30 V 的eGaN FET的轉(zhuǎn)換器的阻抗只是1 mΩ,即降低了阻抗達2.6倍。如果采用第四代100 V的eGaN FET,與第二代100 V的器件相比,阻抗只有2.4 mΩ,即降低了阻抗達2.3倍。
圖1:第二代及第四代氮化鎵器件的阻抗的比較。
Drain to source:漏源電壓
此外,與等效的先進硅功率MOSFET相比,第四代eGaN FET減少硬開關(guān)FOM達5倍(200 V器件)、 8倍( 100 V器件)及 4.8倍(40 V器件),見圖2。
圖2:第二代及第四代氮化鎵器件的硬開關(guān)FOM并與硅功率MOSFET的比較。
至于封裝方面,eGaN FET如果使用MOSFET的傳統(tǒng)封裝不會比MOSFET更好。如果使用芯片規(guī)模封裝,結(jié)果卻截然不同。圖3是在PCB板上的一個典型晶體管的截面圖。熱量主要從兩個途徑散出:從焊錫接面散進PCB板(如RθJB展示)或從晶體的背部散出(RθJC),之后,外殼至環(huán)境的熱阻(RθCA)及電路板至環(huán)境的熱阻(RθBA)將影響散熱效率。雖然eGaN FET比先進的硅MOSFET的體積更小,使得熱阻相對于可散熱的面積來說應(yīng)該增加了。然而,eGaN FET的封裝具備超低的結(jié)點至電路板熱阻(RθJB)并與MOSFET的封裝的熱阻相等。
圖3:氮化鎵器件的散熱效率。
Silicon Substrate:硅襯底
Active GaN Device Region:活躍氮化鎵器件區(qū)域
最重要的是,eGaN FET可以雙面散熱從而可以進一步提高其散熱效率。至于從結(jié)點至外殼(RθJC)的熱阻,除了30 V的MOSFET具有與eGaN FET可比的熱阻外,在更高壓時,eGaN FET具備無可匹敵的散熱性能。
電源轉(zhuǎn)換系統(tǒng)可提高效率
圖4展示了eGaN FET與先進硅MOSFET模塊相比較的電源轉(zhuǎn)換效率,從實驗結(jié)果可以看到,eGaN FET 12 V轉(zhuǎn)1.2 V、40 A的負載點轉(zhuǎn)換器工作在1MHz開關(guān)頻率時可實現(xiàn)超過91.5% 效率。此外,一個采用eGaN FET的器件、48 V 轉(zhuǎn)12 V、 40 A的硬開關(guān)降壓轉(zhuǎn)換器而成為一個非隔離型DC/DC中間總線轉(zhuǎn)換器工作在300 kHz的頻率時可以實現(xiàn)超過98%的效率(圖5)。
圖4:氮化鎵器件可以提高DC/DC轉(zhuǎn)換效率。
圖5:eGaN FET在更高壓的DC/DC轉(zhuǎn)換器可以提高效率。
MOSFET Module:MOSFET 模組
Loss Reduction:損耗降低
Output Current:輸出電流
Efficiency:效率
業(yè)界首個氮化鎵IC
由于減少了需要互相連接2個分立式晶體管的板位,單片式半橋器件IC系列(EPC2100)可縮小占板面積大約 30%,從而縮小整體的系統(tǒng)尺寸,而且,因為速度增加了,因此可以去除功率環(huán)路電感。在1 MHz的工作頻率下,分立式FET在更大電流下更具優(yōu)勢,這是由于下面的分立式FET具備更低的導(dǎo)通損耗??墒牵? MHz時,單片式eGaN FET比分立式FET的性能優(yōu)越很多,這是因為減小了寄生電感,改善了版圖及技術(shù)(圖6)。我們也可以利用更高壓的單片式半橋eGaN FET(例如80 V 的EPC2105)高效地實現(xiàn)從48 V轉(zhuǎn)至1 V的單級轉(zhuǎn)換。
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