一站式定制芯片及IP供應商——燦芯半導體日前宣布推出高精度16位逐次逼近型（16bit SAR）ADC。該IP首個測試芯片基于中芯國際55nm工藝流片成功，現(xiàn)已完成EVB測試，可提供給客戶進行評估。

 該IP采樣率為1MHz, ENOB（有效位）可達14bit，通常情況下其DNL（微分線性誤差）介于-0.4LSB至0.47LSB之間，INL（積分線性誤差）居于-1.8LSB至2.2LSB之間，其典型功耗是4.25mA，性能指標處于國內(nèi)領先水平。

燦芯半導體深耕高精度12/14/16 bit SAR ADC及高速(>150M) PIPELINE ADC，為工業(yè)級高精度應用提供了更豐富的選擇?；?/span>SAR ADC技術的定制芯片累計出貨已近3000萬顆，可廣泛應用于工業(yè)控制、能源及AIoT等領域。

“16bit高精度SAR ADC的發(fā)布，對燦芯半導體而言，是技術層面上的又一次突破，” 燦芯半導體工程副總裁劉亞東表示，“另外，燦芯半導體還不斷拓展創(chuàng)新，將這個技術實施到SMIC 40nm工藝，同時不斷迭代優(yōu)化，減少面積功耗，提升采樣速率，力爭滿足客戶的多層次需求。”