鎧俠為實現(xiàn)超高容量SSD,正試驗7bit/cell超高密度的3D NAND Flash
NAND Flash制造商一直試圖通過增加每個單元存儲的位數(shù)來提高其存儲設(shè)備的存儲密度,據(jù)外媒報導(dǎo),近日鎧俠表示,公司一直在試驗在一個單元中存儲更多比特數(shù)的NAND Flash閃存。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/202207/436047.htm據(jù)報道,近日鎧俠表示,已設(shè)法在每個單元中存儲7 Bits (7 bpc),盡管是在實驗室和低溫的條件下。 為了使存儲密度更高,存儲電壓狀態(tài)的數(shù)量將隨著每個單元存儲Bits的增加呈指數(shù)增長。例如,要存儲4位,單元必須保持16個電壓電平 (2^4),但使用6位,該數(shù)字會增長到64(2^6)。而鎧俠實現(xiàn)的每個單元存儲7位則需要保持128個電壓狀態(tài)(2^7)。
鎧俠在2022年國際記憶研討會 (IMW 2022) 上展示了描述其成就的論文,鎧俠使用通過外延生長構(gòu)建的單晶硅通道來達(dá)成7 bpc的存儲,單晶硅的電阻比多晶硅低,因此更容易記錄此類單元。報告稱,與傳統(tǒng)晶體管相比,具有單晶硅單元晶體管的亞閾值斜率更陡,而泄漏電流和讀取噪聲更低。這種NAND Flash單元現(xiàn)在還無法在商業(yè)實現(xiàn),為了記錄和讀取,鎧俠的科學(xué)家們不得不在實驗室中完成試驗,將芯片浸入液氮(-196°C)以穩(wěn)定材料,降低電壓要求。
在實驗室中構(gòu)建定制晶體管只是超高密度NAND Flash挑戰(zhàn)的一半。首先,研究人員必須開發(fā)和使用具有適合處理128種電壓狀態(tài)的自定義編碼方案的專用SSD控制器,能夠準(zhǔn)確處理128個電壓電平的控制器可能與微處理器一樣復(fù)雜且價格昂貴。
因此,主要問題是使用昂貴且復(fù)雜的SSD控制器將3D NAND記錄密度從5 bpc增加到7 bpc是否有意義。雖然 最好的SSD往往成本很高,但過于先進的控制器可能變得過于昂貴,并消除它們的所有優(yōu)勢。 西部數(shù)據(jù)認(rèn)為, 即使在2025年之后,哪怕是5 bpc的3D NAND也幾乎沒有意義。但是,鎧俠現(xiàn)在展示了7 bpc的物理可能性,甚至談到了最終可以提升至8 bpc。
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