使用時(shí)間可控發(fā)射方法來(lái)進(jìn)行模擬電路的失效分析
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晶體管參數(shù)0.5%的不匹配就會(huì)對(duì)預(yù)期的波形產(chǎn)生影響。這對(duì)模擬電路非常重要，這也表明TRE能用于診斷模擬電路內(nèi)部敏感的不匹配問(wèn)題。這樣的晶體管不匹配將導(dǎo)致器件的失效并最終需要重新設(shè)計(jì)芯片。通過(guò)相應(yīng)的掩模板修改和重新流片我們能生產(chǎn)出功能正常的芯片。
模擬電路文章專題:模擬電路基礎(chǔ)
評(píng)論