——能提供1mv/mA～5 mv/mA的輸出電壓；

　?、?測(cè)試插座上再疊插一個(gè)插座（第二個(gè)插座疊插在主測(cè)試插座上）的情況，僅在第二個(gè)插座的波形滿足本標(biāo)準(zhǔn)的要求才允許；

　　圖6 通過(guò)短路線的400V電壓放電電流波形

　　圖7　通過(guò)500Ω電阻的400V電壓放電電流波形

　　測(cè)試步驟：

　　機(jī)器模式靜電放電測(cè)試時(shí)要求一次測(cè)試至少使用三個(gè)樣本，每個(gè)樣本規(guī)定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)都要事先進(jìn)行測(cè)試并記錄。

　?、?在試驗(yàn)器插座上（A，B端）插上短路線，分別施加100V、200V、400V電壓，電流探針置于B端處；記錄正和負(fù)的波形，修正波形使其滿足圖6的要 求。

　　② 使用500Ω電阻，加電壓±400V，記錄并修正波形使其滿足圖7的要求。

　?、?按表7確定靜電放電測(cè)試起始電壓。

　?、?加三個(gè)正的和負(fù)的脈沖到每個(gè)被測(cè)試樣本，脈沖之間的間隔至少要1s。

　?、?在室溫下測(cè)試樣本的所有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。如果要求多個(gè)溫度，首先從最低溫度開(kāi)始。

　?、?如果所有三個(gè)樣本都通過(guò)規(guī)定數(shù)據(jù)的參數(shù)測(cè)試，則再用表7中更高一擋電壓試驗(yàn)。記錄通過(guò)的最高電壓檔，并按表7將被測(cè)器件分類(lèi)。

　?、?如果有一個(gè)或多個(gè)樣本失效，重新用三個(gè)新的樣本，以降低一擋表7中電壓進(jìn)行試驗(yàn)。如果繼續(xù)有失效，再降低一擋，如果還有失效，則停止試驗(yàn)。

　　以上列舉的兩項(xiàng)為L(zhǎng)ED兼容性測(cè)試的一部分內(nèi)容。

九　系統(tǒng)可靠性