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          利用單片機(jī)多余I/O口實(shí)現(xiàn)溫度檢測電路

          作者: 時(shí)間:2011-10-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            在電子產(chǎn)品中的應(yīng)用已經(jīng)越來越廣泛,在很多的電子產(chǎn)品中也用到了和溫度控制,但那些與控制電路通常較復(fù)雜,成本也高,本文提供了一種低成本的利用多余I/O口實(shí)現(xiàn)的電路,該電路非常簡單,且易于實(shí)現(xiàn),并且適用于幾乎所有類型的。其電路如下圖所示:

            

          利用單片機(jī)多余I/O口實(shí)現(xiàn)溫度檢測電路

            左圖中:

            P1.0、P1.1和P1.2是單片機(jī)的3個(gè)I/O腳,RK為100k的精密電阻,RT為100K-精度為1%的熱敏電阻,R1為100Ω的普通電阻,C1為0.1μ的瓷介電容。其工作原理為:

            先將P1.0、P1.1、P1.2都設(shè)為低電平輸出,使C1放電至放完。

            將P1.1、P1.2設(shè)置為輸入狀態(tài),P1.0設(shè)為高電平輸出,通過RK電阻對C1充電,單片機(jī)內(nèi)部計(jì)時(shí)器清零并開始計(jì)時(shí),檢測P1.2口狀態(tài),當(dāng)P1.2口檢測為高電平時(shí),即C1上的電壓達(dá)到單片機(jī)高電平輸入的門嵌電壓時(shí),單片機(jī)計(jì)時(shí)器記錄下從開始充電到P1.2口轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖降臅r(shí)間T1。

            將P1.0、P1.1、P1.2都設(shè)為低電平輸出,使C1放電至放完。

            再將P1.0、P1.2設(shè)置為輸入狀態(tài),P1.1設(shè)為高電平輸出,通過RT電阻對C1充電,單片機(jī)內(nèi)部計(jì)時(shí)器清零并開始計(jì)時(shí),檢測P1.2口狀態(tài),當(dāng)P1.2口檢測為高電平時(shí),單片機(jī)計(jì)時(shí)器記錄下從開始充電到P1.2口轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖降臅r(shí)間T2。

            從電容的電壓公式:

          利用單片機(jī)多余I/O口實(shí)現(xiàn)溫度檢測電路

            可以得到:T1/RK=T2/RT,即 RT=T2×RK/T1

            通過單片機(jī)計(jì)算得到熱敏電阻RT的阻值。并通過查表法可以得到溫度值。

            從上面所述可以看出,該測溫電路的誤差來源于這幾個(gè)方面:單片機(jī)的定時(shí)器精度,RK電阻的精度,熱敏電阻RT的精度,而與單片機(jī)的輸出電壓值、門嵌電壓值、電容精度無關(guān)。因此,適當(dāng)選取熱敏電阻和精密電阻的精度,單片機(jī)的工作頻率夠高,就可以得到較好的測溫精度。當(dāng)單片機(jī)選用4M工作頻率,RK、RT均為1%精度的電阻時(shí),溫度誤差可以做到小于1℃。 如果P1.2具有外部上升沿中斷的功能,程序可以更簡單,效果更好。


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