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          RCD吸收電路的影響和設(shè)計方法(定性分析)

          作者: 時間:2013-03-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          這回主要介紹電路的影響。


          先分析過程:

          對應(yīng)電路模型:


          我們可以定性的分析一下電路參數(shù)的選擇對電路的暫態(tài)響應(yīng)的影響:
          1.電容C偏大
          電容端電壓上升很慢,因此導(dǎo)致mos 管電壓上升較慢,導(dǎo)致mos管關(guān)斷至次級導(dǎo)通的間隔時間過長,變壓器能量傳遞過程較慢,相當(dāng)一部分初級勵磁電感能量消耗在RC電路上 。
          波形分析為:
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          2.電容C特別大(導(dǎo)致電壓無法上升至次級反射電壓)
          電容電壓很小,電壓峰值小于次級的反射電壓,因此次級不能導(dǎo)通,導(dǎo)致初級能量全部消耗在RCD電路中的電阻上,因此次級電壓下降后達成新的平衡,理論計算無效了,輸出電壓降低。
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          3.RCD電阻電容乘積R×C偏小
          電壓上沖后,電容上儲存的能量很小,因此電壓很快下降至次級反射電壓,電阻將消耗初級勵磁電感能量,直至mos管開通后,電阻才緩慢釋放電容能量,由于RC較小,因此可能出現(xiàn)震蕩,就像沒有加RCD電路一樣。
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          4.RCD電阻電容乘積R×C合理,C偏小
          如果參數(shù)選擇合理,mos管開通前,電容上的電壓接近次級反射電壓,此時電容能量泄放完畢,缺點是此時電壓尖峰比較高,電容和mos管應(yīng)力都很大
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          5.RCD電阻電容乘積R×C合理,R,C都合適
          在上面的情況下,加大電容,可以降低電壓峰值,調(diào)節(jié)電阻后,使mos管開通之前,電容始終在釋放能量,與上面的最大不同,還是在于讓電容始終存有一定的能量。
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          以上均為定性分析,實際計算還是單獨探討后整理,需要做仿真驗證。



          關(guān)鍵詞: RCD 吸收電路

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