圖1 JTAG調(diào)試接口示意圖

　　（1）TAP（測試訪問端口）控制器

　　TAP控制器對嵌入在ARM處理器核內(nèi)部的測試功能電路的訪問控制，是一個同步狀態(tài)機，通過測試模式選擇TMS和時鐘信號TCK來控制其狀態(tài)機。通過測試模式選擇TMS和時鐘信號TCK ＊控制其狀態(tài)轉(zhuǎn)移，實現(xiàn)IEEE1149.1標準所確定的測試邏輯電路的工作時序。

　?。?）指令寄存器

　　指令寄存器是串行移位寄存器，通過它可以串行輸入執(zhí)行各種操作的指令。

　?。?）數(shù)據(jù)寄存器組

　　數(shù)據(jù)寄存器組是一組串行移位寄存器。操作指令被串行裝入由當前指令所選擇的數(shù)據(jù)寄存器，隨著操作的進行，測試結(jié)果被串行移出。其中：

　　·器件ID寄存器：讀出在芯片內(nèi)固化的D號。

　　·旁路寄存器：1位移位寄存器，用一個時鐘的延遲把TDI連接至TDO，使測試者在同一電路板測試循環(huán)內(nèi)訪問其他器件。

　　·邊界掃描寄存器（掃描鏈）：截取ARM處理器核與芯片引腳之間的所有信號，組成專用的寄存器位。