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          使用白光干涉儀過程中的疑問

          作者: 時(shí)間:2013-04-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


          19、問:該設(shè)備光源的中心波長(zhǎng)是多少?

          答:該設(shè)備 光源為白光,也是可見光,其波長(zhǎng)范圍是可見光的波長(zhǎng)范圍在0.77~0.39微米之間。

          20、問:工作臺(tái)部分可傾斜一定角度有何作用?

          答:只是提供初步的水平調(diào)整用,可是只有SIS-1200Plus 有此功能,自動(dòng)機(jī)臺(tái)是沒有的。

          21、問:橫向和縱向為何有差別?

          答:縱向是固定的而且很高,橫向分辨率在不同倍率下是不同的,他們檢測(cè)原理也是不同的。

          22、問:該設(shè)備有幾種軟件界面?

          答:有兩款軟件界面,一款測(cè)量軟件,一款為分析軟件

          23、問:該設(shè)備手動(dòng)和自動(dòng)如何區(qū)分?

          答:Stage不同,控制程序可以設(shè)定planning,自動(dòng)判定等等,看如何運(yùn)用。

          24、問:測(cè)量產(chǎn)品時(shí)機(jī)臺(tái)因氣浮式隔離,可能會(huì)晃動(dòng),是否會(huì)對(duì)測(cè)量產(chǎn)生影響?

          答:隔離器的作用就是防止震動(dòng),因該設(shè)備為納米級(jí)的設(shè)備,所以外界輕微的震動(dòng)都會(huì)對(duì)測(cè)量造成影響。在使用過程中呢,如果沒有通氣,您會(huì)明顯看到干涉條紋的晃動(dòng),但是正因有此氣浮隔離器的存在,所以當(dāng)外界存在震動(dòng)時(shí),花崗巖平臺(tái)是穩(wěn)定的,當(dāng)然如果你刻意的推動(dòng)花崗巖工作臺(tái)時(shí),肯定對(duì)測(cè)量有影響了。

          25、問:變換鏡頭倍率是否需要重新校正,在不同倍率其重復(fù)性是否相同?

          答:變換倍率后不需要重新校正(使用之前有校正過,傾斜工作平臺(tái),粗調(diào)精調(diào)等部件沒有被動(dòng)過,一般在變換倍率后不需要重新校正。

          26、問:掃描方向?qū)y(cè)量有無影響,是否固定為從上往下或從下往上?

          答:一般都是從上往下掃描。

          27、問:PZT是什么,其作用是什么?

          答:PZT是壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器,產(chǎn)生相位移,使得干涉條紋間的相位變化(360度)可計(jì)算得每一度相位變化處的相對(duì)高度,大幅提升量測(cè)分辨率。

          28、問:是否需要每次開機(jī)校正?

          答:不需要每次開機(jī)校正,校正OK后,只要沒有經(jīng)過搬動(dòng)或工作臺(tái)做新的調(diào)整,一般都不重新校正,這也是該設(shè)備的一個(gè)亮點(diǎn)。

          29、問:改產(chǎn)品縱向掃描范圍是150微米,如果掃描更大行程尺寸,是否可以分段掃描在疊加在一起?

          答:是不可以的,如果產(chǎn)品尺寸在縱向超過150微米,是不能測(cè)量到的。

          30、問:有一個(gè)產(chǎn)品有100mm*50mm,用該設(shè)備只能掃描很小區(qū)域,如果掃描整個(gè)平面的粗糙度,是否可以?

          答:因?yàn)榇祟愒O(shè)備是納米級(jí)設(shè)備,主要測(cè)量產(chǎn)品的微觀尺寸及表面等特征,所以測(cè)量的一般都是很小的點(diǎn)區(qū)域,但是對(duì)于此設(shè)備的概念及一般客戶的需求,這樣大小區(qū)域各種特征的測(cè)試已經(jīng)足夠,至于像您提到的100mm*50mm大小的整個(gè)平面的平面度是無法測(cè)量的,不過可以多測(cè)量一些點(diǎn),做為參考。

          31、問:線上設(shè)備主要用來測(cè)什么呢?

          答:線上設(shè)備主要也是檢測(cè)彩色濾光片上的 photo spacer的高度,還有就是彩色濾光片與TFT基板貼合對(duì)位的檢測(cè)。
          32、問:該設(shè)備可否測(cè)涂層厚度,涂層如果有多層,是否必須進(jìn)行破壞,基準(zhǔn)面怎么選???

          答:可以測(cè)量涂層厚度,如果有多層的話,必須在不同層間形成臺(tái)階,方可檢測(cè),如果不同層間為透光材質(zhì),理論上也可試測(cè)。

          33、問:該設(shè)備工作臺(tái)可以承重是多少?

          答 :一般5公斤的承重是沒問題的。

          34、問:該設(shè)備一般多產(chǎn)品的反光率要求是多少?

          答:對(duì)產(chǎn)品的反光率要求一般要大于4%.

          35、問:該設(shè)備在Z軸方向上的掃描范圍只有150μm,但我司產(chǎn)品有300μm,請(qǐng)問貴司產(chǎn)品可以測(cè)嗎?

          答: 如果有要求這樣的掃描范圍, 我們可根據(jù)您的要求來訂做,因?yàn)閷?duì)于這樣的設(shè)備,掃描范圍超過100μm已經(jīng)很大,而且以我們以往客戶使用情況來看,超過150μm 很少會(huì)使用到。

          36、問:該設(shè)備的運(yùn)動(dòng)精度是多少?

          答 :Z軸方向上的運(yùn)動(dòng)精度是2個(gè)μm,X、Y軸是5μm .

          37、問:請(qǐng)問該設(shè)備掃描面積與視野大小是相同的嗎?

          答:掃描面積與視野的概念在此設(shè)備上是等同的,可以為客戶截圖進(jìn)行說明。(end)

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