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          高速ADC的電路結(jié)構(gòu)及其速度-精度-功耗之間的權(quán)衡

          作者: 時間:2001-12-03 來源: 收藏

          計(jì)算機(jī)和通信產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展,推動著模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)在便攜式設(shè)備方面的應(yīng)用有了長足進(jìn)步,ADC的發(fā)展趨勢像普通模擬集成電路(IC)的發(fā)展趨勢一樣走向高速、高精度和低功耗。對ADC的電路結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來說,提高速度,自然要犧牲分辨率和功耗;提高精度或分辨率,要犧牲轉(zhuǎn)換速度和功耗;降低功耗,則要相應(yīng)降低速度和分辨率。因此ADC的速度-精度-功耗(以下稱SAP)三者之間是相互矛盾、相互制約的。在系統(tǒng)應(yīng)用中,如何選擇適當(dāng)類型和技術(shù)指標(biāo)的ADC,即如何對其SAP之間進(jìn)行權(quán)衡,必須從ADC的電路結(jié)構(gòu)入手。另一方面在對高速ADC的電路進(jìn)行微電子設(shè)計(jì)時,如何對其SAP進(jìn)行權(quán)衡又依賴于制造工藝的參數(shù)匹配。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/3024.htm

          本文試圖從兩條不同的技術(shù)路線介紹對SAP進(jìn)行權(quán)衡的主要思路,以便對高速ADC的設(shè)計(jì)與應(yīng)用有進(jìn)一步的認(rèn)識和了解。

          如果說ADC的算法是對ADC工作原理的描述,那么ADC的電路結(jié)構(gòu)則是這種算法在硬件上的體現(xiàn)。結(jié)構(gòu)的選擇與系統(tǒng)設(shè)計(jì)密切相關(guān)。系統(tǒng)設(shè)計(jì)的原則是在電路的性能和硬件成本之間進(jìn)行權(quán)衡。

          高速ADC(吞吐率大于1MSPS)最典型的結(jié)構(gòu)是閃速型(flash),又稱全并行ADC。圖1示出了一種N位閃速型ADC的電路結(jié)構(gòu)。

          這種結(jié)構(gòu)的主要優(yōu)點(diǎn)是直接全并行轉(zhuǎn)換,速度最快,因?yàn)樵谝粋€周期內(nèi)完成A/D轉(zhuǎn)換。這種結(jié)構(gòu)的缺點(diǎn)是需要2N1個比較器,導(dǎo)致管芯面積增大和功耗增高,限制集成度的提高。因此僅當(dāng)分辨率N≤8位,才采用閃速型ADC。

          對于N8位的較高分辨率的高速ADC,對模擬信號采用分步處理的方法,例如折疊或內(nèi)插型ADC和流水線型ADC,以便克服比較器數(shù)目隨分辨率呈指數(shù)增加的問題。流水線型結(jié)構(gòu)有效地克服了閃速型結(jié)構(gòu)的局限性。它將A/D轉(zhuǎn)換過程分成幾級(或幾個相繼的步驟)來完成。每一級的電路結(jié)構(gòu)如圖2所示,它由一個采樣保持電路、一個mADC(例如一個閃速型ADC)和一個m位數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)組成。首先,第一級的采樣保持電路采集輸入的模擬信號。接著mADC將采樣信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字量,將此轉(zhuǎn)換結(jié)果構(gòu)成數(shù)字輸出的最高有效位。再將同一數(shù)字輸出送給mDAC,然后從原來的采樣信號中減去此DAC輸出的模擬量。將這個剩余的模擬量再進(jìn)行放大送到流水線型ADC的下一級,象第一級一樣進(jìn)行采樣和轉(zhuǎn)換。重復(fù)這個過程,一直達(dá)到分辨率要求的轉(zhuǎn)換級數(shù)。從原理上來講,一個p級流水線型ADC,其中每一級都帶有一個m位的閃速型ADC。那么要構(gòu)成一個N位分辨率的高速ADC(這里N=p×m),則需要使用p×(2m1)個比較器。例如一個具有8位分辨率的2級流水型ADC,需要30個比較器。對于416ADC僅需要60個比較器。當(dāng)然,在實(shí)際電路設(shè)計(jì)中還留出幾個附加位以便進(jìn)行誤差修正。

          在含有相同的比較器數(shù)目的情況下,流水線型ADC能達(dá)則的分辨率要比閃速型ADC高。這是從1個轉(zhuǎn)換周期增加到p個周期,即以增加總的轉(zhuǎn)換時間為代價換來的。但是由于每一級采樣保持器都能保持其輸入信號,這樣p級轉(zhuǎn)換過程可以同時進(jìn)行,因此流水線型ADC總的吞吐率應(yīng)等于一級閃速ADC的吞吐率,即每周期轉(zhuǎn)換一次。但這兩種結(jié)構(gòu)ADC的不同之處在于,對流水線型ADC來說,有一個等于p周期的等待時間(latency)問題。流水線型ADC的另一個缺點(diǎn)是,轉(zhuǎn)換過程通常要求一個具有固定周期的時鐘。用普通的流水線型ADC對一個變化非??斓姆侵芷谀M信號進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換會非常困難,因?yàn)榱魉€型ADC通常都按一種周期的速率進(jìn)行工作。

          雖然流水線ADC可以解決較高速度和較高分辨率的應(yīng)用問題,但功耗問題仍然沒有解決。逐次逼近型(SAR)與閃速型可以看作是ADC結(jié)構(gòu)中的兩個極端。閃速型ADC使用多個比較器,用一個周期完成A/D轉(zhuǎn)換。而SARADC大家都比較熟悉(在許多電子技術(shù)教科書中都有詳細(xì)的介紹),是用一個比較器在多個周期內(nèi)完成A/D轉(zhuǎn)換。SARADC能使用一個比較器實(shí)現(xiàn)高分辨ADC。但它要達(dá)到N位分辨率需要N個比較周期,而流水線型ADC需要p個周期,閃速型ADC需要1個周期,因?yàn)橹鸫伪平?/font>ADC采用了相當(dāng)簡單的電路結(jié)構(gòu)(使用一個SAR,比較器和DAC),所以一直到所有權(quán)重都比較完,才能完成一次轉(zhuǎn)換,在N個比較周期內(nèi),只能處理一個A/D轉(zhuǎn)換過程。因此,SARADC通常用在高分辨率低速采樣場合。SARADC還適合用于非周期模擬信號輸入場合,因?yàn)檗D(zhuǎn)換過程可以隨時開始,這個特點(diǎn)使SAR結(jié)構(gòu)非常適合對多個與時間無關(guān)的信號進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換。因?yàn)橐黄?/font>SARADC和一片輸入多路轉(zhuǎn)換器通常要比NΣ-ΔADC便宜。當(dāng)抖動噪聲出現(xiàn)時,SAR和流水線型ADC可以采用平均方法提高ADC的有效分辨率。采樣速率每提高一倍,有效分辨率改善3dB,或1/2位。

          當(dāng)使用SAR或流水線ADC時應(yīng)該考慮的一個問題是混疊。對一個信號進(jìn)行采樣的過程會引起混疊——頻域內(nèi)采樣信號關(guān)于采樣頻率的鏡象。在大多數(shù)應(yīng)用中,混疊效應(yīng)是不希望出現(xiàn)的,因?yàn)檫@會要求在ADC的前端有一個低通濾波器,以便濾掉高頻噪聲分量,而使被混疊的信號通過。但是在欠采樣中卻把混疊效應(yīng)當(dāng)作優(yōu)點(diǎn)來使用,在通信應(yīng)用場合最常用將一個高頻信號轉(zhuǎn)換成一個低頻信號。只要信號的總帶寬滿足奈奎斯特準(zhǔn)則(小于采樣速率的一半),欠采樣是總有效的,而且這種欠采樣轉(zhuǎn)換在信號邊帶中的高頻帶具有充足的采集量和信號采樣性能。快速SAR型ADC具有這種欠采樣能力,而速度更快的流水線型ADC在欠采樣方面的能力更強(qiáng)。

          系統(tǒng)設(shè)計(jì)中選擇ADC時,雖然常常考慮到電源要求、接口、封裝、工作溫度范圍等因素,實(shí)質(zhì)上也要對SAP權(quán)衡。如果僅從速度和分辨率之間進(jìn)行權(quán)衡(見圖3),那么閃速型ADC和Σ-Δ型ADC是兩個極端。閃速型對應(yīng)速度最快、分辨率最低的ADC,而Σ-Δ型對應(yīng)分辨率最高、速度最低的ADC。關(guān)于這幾種典型ADC的特性比較見表1和表2。

          其中性能等級為“1”表示此結(jié)構(gòu)ADC的該項(xiàng)性能比其它結(jié)構(gòu)ADC好,“2”則次之,以此類推?!?”表示具有表中列出的功能。

          其中N為分辨率,p為分級數(shù),比如,半閃速型ADC,p=2。

          高速ADC的電路設(shè)計(jì)對SAP權(quán)衡依賴于使用制造工藝的參數(shù)匹配。在一塊IC上,兩個在設(shè)計(jì)上完全相同的器件,在性能上的差異具有隨機(jī)性,所以在對其性能仿真的物理參數(shù)表現(xiàn)出某種程度的隨機(jī)性失配,這種失配是由制造工藝的隨機(jī)性引起的。兩個完全相同的CMOS晶體管的失配,用兩者之間的閾值電壓VT、體因子γ、電流因子β和相互距離之差D的隨機(jī)變量來表征,對于最小器件尺寸通常大于2mm的制造工藝廣泛采用實(shí)驗(yàn)方法對這些隨機(jī)變量做仿真。其參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差用下式表示:

          其中W為柵極寬度,L為柵極長度,D為相互距離,AVT,SVT為工藝參數(shù)。

          例如,閃速型ADC正常工作取決于每個比較器檢測到的基準(zhǔn)電壓的精確程度,每個比較器的失調(diào)電壓是一種獨(dú)立的隨機(jī)變量,它取決于所采用的制造工藝的匹配特性,直接影響ADC的微分線性誤差(DNL)和積分線性誤差(INL)。設(shè)計(jì)ADC的第一步就是計(jì)算失調(diào)電壓的標(biāo)準(zhǔn)偏差。確保根據(jù)某種技術(shù)指標(biāo)(成品率)在很高的概率下進(jìn)行設(shè)計(jì)。考慮所有比較器的失調(diào)電壓都是獨(dú)立的隨機(jī)變量,可采用Monte Carlo仿真來計(jì)算設(shè)計(jì)成品率作為失調(diào)電壓的函數(shù)。SAP的基本關(guān)系式為:

          可從3個方面進(jìn)行權(quán)衡。

          ·工藝尺度成比例變化對SAP的影響;

          ·電壓尺度對SAP的影響;

          ·工藝參數(shù)對SAP的影響?!?/font>



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