Agilent Versatest V4000提供高性能存儲(chǔ)器測(cè)試功能 作者：eaw 時(shí)間：2005-05-08 來(lái)源：eaw 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫(kù)查詢(xún) 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 安捷倫科技近期推出適用于存儲(chǔ)器和邏輯器件測(cè)試的Agilent Versatest V4000系統(tǒng)。該新品提供了100MHz的性能和獨(dú)立的64條I/O通道，保證其應(yīng)用程序全面兼容所有Versatest系列產(chǎn)品。適用于包括手機(jī)、PDA和MP3播放器中使用的閃存、DRAM、SRAM、嵌入式內(nèi)存和純邏輯模塊在內(nèi)的各種應(yīng)用。www.agilent.com
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