泰克在09IDF上展示最新的高速串行測(cè)試解決方案
中國(guó)北京, 2009年4月8日 – 全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商--泰克公司日前宣布將在2009年4月8日北京富力萬(wàn)麗酒店舉行的2009年英特爾信息技術(shù)峰會(huì)(IDF 2009 Beijing)上展示最新的高速串行測(cè)試解決方案。作為領(lǐng)先的先進(jìn)高速串行技術(shù)測(cè)試解決方案提供商,泰克將演示其為USB3.0、PCI Express 3.0、第三代串行ATA和10G以太網(wǎng)開(kāi)發(fā)的尖端測(cè)試解決方案。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/93338.htm泰克在信號(hào)完整性及復(fù)雜的高速測(cè)量和分析中擁有業(yè)內(nèi)無(wú)可比擬的技術(shù)力量。英特爾公司最近授予了泰克首選優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商(PQS)獎(jiǎng),以表彰其在2008年為英特爾作出的重要貢獻(xiàn)。泰克一直為英特爾提供驗(yàn)證測(cè)試設(shè)備,幫助英特爾產(chǎn)品開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)向市場(chǎng)上推出下一代產(chǎn)品。
SuperSpeed USB (USB 3.0)一致性測(cè)試解決方案
生產(chǎn)型SuperSpeed USB接口IC預(yù)計(jì)將在2010年初開(kāi)始出貨。泰克USB測(cè)試解決方案為產(chǎn)品開(kāi)發(fā)人員提供了一整套完善的工具,保證其物理層(PHY)設(shè)計(jì)滿足最新的USB規(guī)范。
泰克SuperSpeed USB一致性測(cè)試解決方案基于多種儀器,包括實(shí)時(shí)示波器、采樣示波器、任意波形發(fā)生器等,提供了杰出的測(cè)量性能,滿足了高速串行標(biāo)準(zhǔn)需求。例如,DSA71254實(shí)時(shí)示波器擁有五倍于串行信號(hào)時(shí)鐘速率的帶寬,這個(gè)“五階諧波”對(duì)眼圖分析具有關(guān)鍵性的意義。類(lèi)似的,AWG7122B任意波形發(fā)生器提供了復(fù)雜的波形,包含著模擬傳輸路徑劣化效應(yīng)的壓力,支持接收機(jī)測(cè)試。這些硬件工具與專(zhuān)家應(yīng)用軟件配套使用,如DPOJET抖動(dòng)和眼圖分析工具和SerialXpress高級(jí)抖動(dòng)生成工具,為設(shè)計(jì)人員檢驗(yàn)和調(diào)試設(shè)計(jì)提供了所需的工具。
PCI Express 3.0、第三代串行ATA 和10G以太網(wǎng)測(cè)試解決方案
PCI Express 3.0規(guī)范提供了一條8GT/s鏈路,通過(guò)數(shù)據(jù)加擾功能,使數(shù)據(jù)速率較2.0時(shí)提高一倍。憑借DSA72004B實(shí)時(shí)示波器、串行數(shù)據(jù)鏈路分析軟件、DPOJET抖動(dòng)和眼圖分析工具及P7520 TriMode三模差分探頭,泰克為數(shù)據(jù)處理層、鏈路層和物理層測(cè)試提供了最強(qiáng)大、最完整的測(cè)試系列。
第三代串行ATA存儲(chǔ)接口規(guī)范將最大傳送速度從3 Gb/s提高到6 Gb/s,為實(shí)現(xiàn)更高性能的存儲(chǔ)解決方案鋪平了道路,包括新興的固態(tài)驅(qū)動(dòng)器和企業(yè)商務(wù)存儲(chǔ)需求。通過(guò)泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器系列和泰克DSA/DPO70000B示波器系列,泰克為串行ATA Gen 3提供了業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的物理層測(cè)試功能。
隨著以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)被迅速采用,工程師們一直面臨著驗(yàn)證物理層以太網(wǎng)設(shè)備和改善效率的壓力。泰克為模擬驗(yàn)證、一致性測(cè)試和設(shè)備檢定提供了一整套完善的集成工具,包括10BASE-T、100BASE-TX、1000BASE-T和10GBASE-T技術(shù)。這套工具包括D
評(píng)論