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          IMEC向Samsung提供嵌入式SRAM可制造設(shè)計工具

          作者: 時間:2009-04-23 來源:SEMI 收藏

            近日成功地將靜態(tài)分析工具MemoryVAM轉(zhuǎn)交給Samsung。該工具可預(yù)估深亞微米技術(shù)中因工藝不穩(wěn)定而造成的SRAM成品率損失。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/93729.htm

            該工具同時還幫助和系統(tǒng)設(shè)計者估算由于周期時間、存取時間和功耗等工藝因素變化而造成的成品率降低



          關(guān)鍵詞: IMEC 存儲器 IC

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