0 引 言
高壓輸電線路絕緣子串的污穢閃絡(luò)是影響電網(wǎng)運(yùn)行的重要因素之一。隨著電力系統(tǒng)的發(fā)展和大氣中各類污染的加劇，沉積在絕緣子表面的污穢層受潮后使絕緣子的外絕緣能力下降，并常引起污閃事故，嚴(yán)重妨礙著電力系統(tǒng)的安全、穩(wěn)定、經(jīng)濟(jì)運(yùn)行。
目前，檢測(cè)輸電線路外絕緣污穢程度的方法有等值附鹽密度法、測(cè)量污層電導(dǎo)率法和測(cè)量絕緣子表面泄漏電流法。前兩者要在停電的條件下進(jìn)行，相對(duì)傳統(tǒng)、落后，難以反映現(xiàn)場(chǎng)絕緣子污穢實(shí)時(shí)信息。而污穢絕緣子表面的泄漏電流是在運(yùn)行電壓作用下受污表面受潮后流過絕緣子表面的電流，是運(yùn)行電壓、氣候(大氣壓力、溫度、濕度等)、污穢三要素綜合作用的結(jié)果，是一個(gè)動(dòng)態(tài)參數(shù)。泄漏電流大小與絕緣子污穢程度密切相關(guān)，因此檢測(cè)高壓輸電線路絕緣子泄漏電流具有實(shí)際工程意義。
輸電線路桿塔分布廣，桿塔上的泄漏電流監(jiān)測(cè)分機(jī)的數(shù)據(jù)信息需用無線方式傳輸；同時(shí)，分機(jī)工作于高壓輸電線路桿塔上，通常采用太陽能供電，因此要求系統(tǒng)功耗低、可靠性高。利用TI公司最新推出的低功耗芯片MSP430F149內(nèi)部豐富的硬件資源和MORTORo―LA公司生產(chǎn)的G18 GSM數(shù)據(jù)通訊模塊構(gòu)建的輸電線路絕緣子污穢遙測(cè)系統(tǒng)是一種低成本、低功耗、高可靠性的技術(shù)方案。

l 監(jiān)測(cè)原理
由于流過絕緣子的泄漏電流脈沖的最大幅值表征了該絕緣子接近閃絡(luò)的程度。因此系統(tǒng)把絕緣子上的泄漏電流波的最高峰值作為表征污穢絕緣子運(yùn)行狀態(tài)的特征量。以光滑圓柱絕緣子為例，其在電壓U的作用下沿整個(gè)絕緣子表面的泄漏電流為：

式中：Rn為絕緣子在均勻污染和濕潤(rùn)條件下的電阻；L為沿絕緣子表面的爬電距離；D為絕緣子的直徑；γn為濕潤(rùn)污穢層的表面電導(dǎo)率；EL為沿爬電路徑的平均電場(chǎng)強(qiáng)度。
而對(duì)任意形狀的絕緣子，取其沿爬電路徑的微分段dl，則沿爬電路徑微分段的濕潤(rùn)污穢表面電阻為：

式中：l為沿爬電路徑的線坐標(biāo)；γn(l)和D(l)為任意坐標(biāo)值處的絕緣子表面電導(dǎo)率和直徑。
因此，絕緣子整個(gè)表面的電阻為：

當(dāng)爬電路徑的表面電導(dǎo)率為常數(shù)時(shí)，式(3)改寫為：

當(dāng)沿爬電路徑的表面電導(dǎo)率為變數(shù)時(shí)，可引入平均表面電導(dǎo)率的概念，即：