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          Si87xx的CMTI性能測量

          作者: 時間:2013-05-17 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          licon Labs數(shù)字隔離器(光電耦合器替代品)與標(biāo)準(zhǔn)光電耦合器之間關(guān)于共模瞬變抑制()魯棒性的詳細(xì)對比。該視頻中展示了如何使用被認(rèn)可的經(jīng)過校準(zhǔn)的商業(yè)測試儀測量數(shù)字隔離器的瞬變抑制特性,因此你能確切的了解到我們?nèi)绾螠y量我們產(chǎn)品的性能。CMTI是一種在快速共模瞬變事件過程中隔離器維護(hù)數(shù)據(jù)完整性的能力。多種情況可能引起共模瞬變,例如IGBT驅(qū)動電路、快速的高電壓或高電流開關(guān)負(fù)載、電機驅(qū)動和浮動電源。本地在隔離器或電路板上的寄生通路能夠跨越隔離柵耦合,引起數(shù)據(jù)錯誤,危及系統(tǒng)完整性。licon Labs Si系列產(chǎn)品產(chǎn)生的寄生電容與當(dāng)前最先進(jìn)的光電耦合器相比要低2-3倍。這種降低的耦合帶來更高的CMTI性能,從而提高了系統(tǒng)可靠性和性能;這在高可靠性應(yīng)用(例如電力傳輸和通信系統(tǒng))中尤其重要。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/192788.htm

          詳情請看視頻,地址為:http://bbs.21ic.com/icview-550364-1-1.html

          Si87xx的CMTI性能測量.jpg

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