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          高速數(shù)字電路封裝電源完整性分析

          作者: 時(shí)間:2016-10-26 來源:IC封裝設(shè)計(jì) 收藏

            一、Pkg與PCB系統(tǒng)

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201610/311828.htm

            隨著人們對(duì)數(shù)據(jù)處理和運(yùn)算的需求越來越高,電子產(chǎn)品的核心—芯片的工藝尺寸越來越小,工作的頻率越來越高,目前處理器的核心頻率已達(dá)Ghz,數(shù)字信號(hào)更短的上升和下降時(shí)間,也帶來更高的諧波分量,數(shù)字系統(tǒng)是一個(gè)高頻高寬帶的系統(tǒng)。對(duì)于一塊組裝的PCB,無論是PCB本身,還是上面的(Package,Pkg),其幾何結(jié)構(gòu)的共振頻率也基本落在這一范圍。不當(dāng)?shù)碾娫垂?yīng)系統(tǒng)(PDS)設(shè)計(jì),將引起結(jié)構(gòu)共振,導(dǎo)致電源品質(zhì)的惡化,造成系統(tǒng)無法正常工作。

            此外,由于元器件密度的增高,為降低系統(tǒng)功耗,系統(tǒng)普遍采用低電壓低擺幅設(shè)計(jì),而低電壓信號(hào)更容易受到噪聲干擾。這些噪聲來源很廣,如耦合(coupling)、串?dāng)_(Crosstalk)、電磁輻射(EMI)等,但是最大的影響則來自于電源的噪聲,特別是同步切換噪聲(Simultaneous switching noise,SSN)。

            通常整個(gè)PDS系統(tǒng)除了包含電路系統(tǒng)外,也包含電源與地平面形成的電磁場(chǎng)系統(tǒng)。下圖是一個(gè)電源傳輸系統(tǒng)的示意圖。

            

           

            圖1 典型的電源傳輸系統(tǒng)示意圖

            二、Pkg與PCB系統(tǒng)的測(cè)量

            一般在探討地彈噪聲(GBN)時(shí),通常只單純考慮PCB,且測(cè)量其S參數(shù)|S21|來表示GBN大小的依據(jù)。Port1代表SSN激勵(lì)源的位置,也即PCB上主動(dòng)IC的位置,而較小的|S21|代表較好的PDS設(shè)計(jì)和較小的GBN。然而一般噪聲從IC上產(chǎn)生,通過Pkg的電源系統(tǒng)、再通過基板Via和上的錫球的連接,到達(dá)PCB的電源系統(tǒng)(如圖1)。所以不能只單純考慮PCB或Pkg,必須把兩者結(jié)合起來,才能正確描述GBN在高速數(shù)字系統(tǒng)中的行為。

            為此,我們?cè)O(shè)計(jì)一個(gè)PDS結(jié)構(gòu)(如圖2),來代表Pkg安裝在PCB上的電源系統(tǒng)。

            

           

            圖2 BGA安裝在PCB上的結(jié)構(gòu)和截面示意圖

            使用網(wǎng)絡(luò)分析儀(HP8510C)結(jié)合探針臺(tái)(Microtechprobe station),量測(cè)此結(jié)構(gòu)之S參數(shù),從50Mhz到5Ghz。測(cè)量上,使用兩個(gè)450um-pitch的GS探針,接到Pkg信號(hào)層的Powerring和Ground ring上。這個(gè)測(cè)量結(jié)構(gòu)如圖3。

            

           

            圖3 BGA封裝安裝在PCB上的結(jié)構(gòu)測(cè)量示意圖

            Pkg+PCB結(jié)構(gòu)量測(cè)S參數(shù)的結(jié)果如圖4所示,同時(shí)我們也做了單一Pkg和PCB的量測(cè)結(jié)果,通過對(duì)比來了解整個(gè)PDS系統(tǒng)和單一Pkg和PCB之間的差別。

            

           

            圖4 BGA封裝安裝在PCB上的量測(cè)結(jié)果


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