高速PCB過孔的研究
在數(shù)字通信系統(tǒng)中,隨著PCB布線密 度,布線層數(shù)和傳輸信號速率的不斷增加,信號完整性的問題變得越來越突出,已經(jīng)成為高速PCB設(shè)計者巨大的挑戰(zhàn)。而在高速PCB設(shè)計中,過孔已經(jīng)越來越普 遍使用,其本身的寄生參數(shù)極易造成信號完整性問題,如何減少過孔本身所產(chǎn)生的信號完整性問題,已經(jīng)成為高速PCB設(shè)計者研究的重點和難點。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201706/347613.htm過孔是多層高速PCB的重要組成部分,過孔的費(fèi)用通??梢哉嫉秸麄€PCB費(fèi)用30%~40%,過孔主要由兩個作用:不同層的電氣連接和器件的固定 和定位。工藝上分為盲孔,埋孔和通孔。盲孔和埋孔得深度不超過PCB的厚度,只連通PCB中的部分層;通孔則貫穿整個PCB層,另外由于通孔在工藝上更易 實現(xiàn),成本較低,所以絕大部分PCB只使用通孔,本文主要討論通孔的情況。
若經(jīng)過嚴(yán)格的物理理論推導(dǎo)和近似分析,可以把過孔的等效電路模型為一個電感兩端各串聯(lián)一個接地電容,如圖所示。
圖 過孔的等效電路模型
從等效電路模型可知,過孔本身存在對地的寄生電容,假設(shè)過孔反焊盤直徑為D2,過孔焊盤的直徑為D1,PCB板的厚度為T,板基材介電常數(shù)為ε,則過孔的寄生電容大小近似于:
過 孔的寄生電容可以導(dǎo)致信號上升時間延長,傳輸速度減慢,從而惡化信號質(zhì)量。同樣,過孔同時也存在寄生電感,在高速數(shù)字PCB中,寄生電感帶來的危 害往往大于寄生電容。它的寄生串聯(lián)電感會削弱旁路電容的貢獻(xiàn),從而減弱整個電源系統(tǒng)的濾波效用。假設(shè)L為過孔的電感,h為過孔的長度,d為中心鉆孔的直 徑。過孔近似的寄生電感大小近似于:
為 了量化分析過孔直徑,過孔深度,過孔焊盤和反焊盤幾種關(guān)鍵參數(shù)對高速PCB的信號完整性的影響,本文采用了全波電磁仿真軟件HFSS軟件對高速 PCB過孔進(jìn)行了三維仿真分析,與傳統(tǒng)的電路等效方式仿真,全波電磁仿真軟件具有仿真結(jié)果準(zhǔn)確可靠,仿真速度快,界面友好等優(yōu)點。為詳細(xì)分析過孔的關(guān)鍵參 數(shù)對過孔性能的影響,把部分關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置為動態(tài),設(shè)置如下:材質(zhì)為FR4,介點系數(shù)為4.4,反焊盤直徑R_antipad變化范圍 10mil~17mil;過孔直徑R_via變化范圍10mil~13mil,過孔焊盤R_pad變化范圍12mil~16mil,過孔深度H_pad變 化范圍59mil~70mil。
圖 過孔的三維仿真模型圖(HFSS)
仿真的掃描頻率范圍為0Hz~10GHz,每組仿真結(jié)果包括TDR,反射和插入損耗。并詳細(xì)分析三種參數(shù)與過孔尺寸變化的對應(yīng)關(guān)系。
把反焊盤大小固定為13mil,只變化過孔直徑(10mil~12mil);通過電磁仿真得到TDR,反射,,插入損耗與孔徑的對應(yīng)仿真圖,從仿真 結(jié)果可以看出:隨著過孔的不斷增大,阻抗的不連續(xù)性越明顯,插入損耗越大,反射也越大。過孔直徑由10mil增加到12mil過程中,阻抗不連續(xù)嚴(yán)重時相 差14歐姆左右,同時引入的插入損耗嚴(yán)重時達(dá)到4 dB。所以在高速PCB設(shè)計時盡量控制信號過孔的直徑,一般不超過0.3mm,減少過孔對信號完整性的影響。
把反焊盤大小固定為 13mil,過孔直徑固定為10mil,改變過孔深(59mil~71mil);通過電磁仿真得到TDR ,反射,插入損耗與孔徑深度的對應(yīng)仿真圖;從仿真結(jié)果可以得出隨著孔徑深度的不斷增加,阻抗不連續(xù)性更加明顯,反射更為嚴(yán)重,插入損耗會變得更大。過孔深 度變化造成的不連續(xù)性,反射和插入損耗相沒有過孔直徑變化造成的明顯,孔深由59mil變化到71mil過程中,阻抗嚴(yán)重時差3 dB左右,插入損耗嚴(yán)重時為1 dB左右,反射在0Hz~10GHz內(nèi)也不是特別明顯。不過為保證信號完整性,高速PCB設(shè)計中PCB疊層越少越好,厚度一般控制在1.5mm以內(nèi)。
把 反焊盤大小固定為13mil,過孔深度固定為70mil,只改變過孔焊12mil~20mil),通過電磁仿真得到TDR,反射,插入損耗與 過孔焊盤的對應(yīng)仿真圖,可以得出孔徑焊盤的不斷增大,阻抗不連續(xù)性越明顯,反射更為嚴(yán)重,插入損耗也會更大。阻抗嚴(yán)重時差5歐姆左右,反射和插入損耗也相 差較為明顯,在高速PCB設(shè)計中對過孔焊盤的尺寸也要控制在合理的范圍內(nèi),一般小于0.6mm,以減少對信號完整性的影響。
把過孔焊盤大 小固定為10mil,過孔深度固定為70mil,只改變反焊13mil~17mil),通過電磁仿真得到TDR,反射,插入損耗與過孔焊盤的對應(yīng)仿真圖,可以得出反焊盤的不斷減小,阻抗不連續(xù)性不斷惡化,反射更為嚴(yán)重,插入損耗也會變得大。所以在高速PCB設(shè)計中盡量使用較大的反焊 盤,以便減少反射和插入損耗,優(yōu)化信號傳輸質(zhì)量,改善信號完整性。
光迅科技通 過建立過孔三維物理 模型和電磁仿真,研究了在掃描頻率為0Hz~10GHz的范圍內(nèi),過孔直徑,過孔深度,過孔焊盤和反焊盤幾種關(guān)鍵參數(shù)的變化所帶來的阻 抗不連續(xù)性,反射和插入損耗的嚴(yán)重程度;并推薦了高速PCB設(shè)計中過孔常用尺寸和一些重要的設(shè)計原則,這些原則能夠為高速PCB設(shè)計者提供重要的參考,同 時可以減少PCB設(shè)計中所遇到的信號完整性問題,縮短設(shè)計周期和開發(fā)成本。
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