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          真正的汽車0級EEPROM支持下一代汽車特性

          作者:Julio Song 時間:2018-11-29 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
          編者按:對于可擦除的、非易失性的存儲,業(yè)界已經(jīng)在兩項技術(shù)上進行了標準化:Flash(閃存)和EEPROM。在某些方面,EEPROM被視為過時的方案,但它在一些具有特定需求的應(yīng)用中提供顯著的優(yōu)勢,例如當數(shù)據(jù)的保留被視為安全至上時,EEPROM將是首選,因此十分適用于汽車電子等領(lǐng)域。

          作者 / Julio Song 安森美半導體邏輯、開關(guān)和存儲事業(yè)群

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201811/395032.htm

          摘要:對于可擦除的、非易失性的存儲,業(yè)界已經(jīng)在兩項技術(shù)上進行了標準化:(閃存)和。在某些方面,被視為過時的方案,但它在一些具有特定需求的應(yīng)用中提供顯著的優(yōu)勢,例如當數(shù)據(jù)的保留被視為安全至上時,將是首選,因此十分適用于電子等領(lǐng)域。

            數(shù)字世界之所以存在,是因為我們可以輕松地創(chuàng)建、交換、存儲、檢索和操作二進制信息。如果電子產(chǎn)品仍然完全依賴模擬數(shù)據(jù),就不那么先進了;行業(yè)還沒有創(chuàng)造一種方法來可靠地存儲原始形式的模擬數(shù)據(jù),至少沒有一種能夠與數(shù)字存儲的密度和耐久性相當?shù)姆绞?,而且在未來也不太可能在這個方向上投入太多的精力。雖然這需要將信息在數(shù)字和模擬間相互轉(zhuǎn)換,但數(shù)字數(shù)據(jù)的可重復(fù)性使得這負擔很小。

            從根本上講,數(shù)字存儲數(shù)據(jù)所采用的技術(shù)具有一個可分解的誤差幅度。在半導體中,這通常涉及存儲必須在相對較大的窗口內(nèi)的電荷;電路檢測電荷,并且每個邏輯電平的預(yù)定義上限和下限內(nèi)的任何內(nèi)容都被譯為邏輯0或邏輯1。正是由于電荷存儲的變化,使得模擬值難以準確存儲。

            對于可擦除的、非易失性的存儲,業(yè)界已經(jīng)在兩項技術(shù)上進行了標準化:和EEPROM。在某些方面,EEPROM被視為過時的方案,但它在一些具有特定需求的應(yīng)用中提供顯著的優(yōu)勢。隨著我們向前邁進,很明顯,這些優(yōu)勢正越來越適用于未來的技術(shù)。

          1 和EEPROM的對比

            Flash內(nèi)存的主導地位在很大程度上要歸功于消費領(lǐng)域的多媒體應(yīng)用,這是非常適合的。該應(yīng)用的主要要求是密度、性能和成本,F(xiàn)lash技術(shù)非常善于平衡以滿足市場需求。例如,具有32 Gbit密度的NOR Flash器件采用8引腳SMD封裝,這似乎滿足了許多應(yīng)用需求。但與EEPROM相比,F(xiàn)lash技術(shù)也存在一些缺點。

            首先,EEPROM被認為比Flash更耐用,或讀寫次數(shù)更多。數(shù)據(jù)保存也很重要,在這方面,EEPROM也很出色。在消費應(yīng)用中,耐用性和保存能力都不太重要,因為消費者是Flash內(nèi)存使用方式的主要決定因素。在其他行業(yè),內(nèi)存的使用方式大不相同,更高的耐用性和保存能力比密度和速度更重要,而這正是EEPROM技術(shù)可超越Flash的地方。

            這種強固性通常以性能為代價;Flash傾向于比EEPROM更高的速度運行(讀、寫),但這也伴隨著訪問部分內(nèi)存的方式的條件。通常,F(xiàn)lash內(nèi)存以塊的形式尋址,而EEPROM通??梢悦孔止?jié)的方式訪問。

            所有這些特性在許多應(yīng)用領(lǐng)域都很重要,包括工業(yè)、醫(yī)療和領(lǐng)域。事實上,當數(shù)據(jù)的保留被視為安全至上時,EEPROM將是首選。

          2 在應(yīng)用中使用EEPROM的原因

            汽車市場對所有電子元器件的一個基本要求是符合汽車電子協(xié)會(通??s寫為AECQ)制定的標準。這些標準涵蓋了應(yīng)力測試的許多方面,尤其是工作溫度范圍。對于大多數(shù)用于汽車應(yīng)用的半導體器件,特別是如果它們位于發(fā)動機艙內(nèi),最低要求是汽車。這表明,器件在-40℃至125℃的環(huán)境工作溫度范圍內(nèi)應(yīng)正常工作而不發(fā)生故障。閃存的制造商通常達到汽車3級(-40℃至85℃)或2級(-40℃至105℃),而很少有符合汽車標準的。

            由于使用的半導體工藝,EEPROM更適合在更寬的溫度范圍內(nèi)可靠地工作,如安森美半導體的NV250x0LV,不僅滿足溫度要求,而且還可以在1.7V的電源電壓下(這比其他EEPROM器件要低得多)工作(如圖3)。由于汽車市場新興的趨勢,這一點很重要。

            此外,安森美半導體成功地開發(fā)了行業(yè)唯一的EEPROM,以滿足定義為汽車0級的環(huán)境工作溫度范圍:-40℃至150℃。

          3 汽車應(yīng)用的新趨勢

            如上所述,NV25080(8 Kb)、NV25160(16 Kb)、NV25320(32 Kb)和NV2564(64 Kb)是行業(yè)內(nèi)真正的汽車0級串行EEPROM,這一點非常重要,因為符合汽車市場新興的趨勢。

            制造商現(xiàn)在使用EEPROM來存儲配置和校準數(shù)據(jù),以滿足更廣泛的駕駛功能。隨著汽車更自動化,這些功能在發(fā)展且更為安全至上。對于安全至上的應(yīng)用,符合汽車1級是不夠的,制造商需要真正的汽車0級器件。安森美半導體的汽車0級EEPROM已被開發(fā),以提供高水平的耐用性和保存能力,這是相輔相成的,和依賴于基礎(chǔ)的工藝技術(shù)。通過開發(fā)一個提供真正的汽車0級的工藝,EEPROM能夠提供400萬次讀/寫周期的耐用性,保存200年。這些數(shù)字在25℃的環(huán)境溫度下獨立測試,在150℃時,0級非易失性(NV)系列仍提供30萬次讀/寫周期,保存時間200年。沒有其他半導體制造商發(fā)布的數(shù)據(jù)與這種耐用性和數(shù)據(jù)保存水平相匹配。

            如前所述,許多汽車應(yīng)用現(xiàn)在使用EEPROM存儲少量的關(guān)鍵數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)在正常運行期間可能會被多次覆蓋。它還被用于存儲諸如傳輸控制單元和發(fā)動機控制單元等應(yīng)用中的固件,以及前照燈單元的數(shù)據(jù)校準。為了進一步提高可靠性,安森美半導體的NV EEPROM還具有糾錯碼,可檢測單比特故障,并校正1字節(jié)數(shù)據(jù)中的1位。

            顯然,高水平的耐用性正越來越重要,但同樣重要的是要認識到,許多這些新特性必須適用于現(xiàn)有的方案,因此尺寸和功率也是一個因素。安森美半導體的汽車EEPROM系列采用小外形封裝,包括UDFN-8和CSP,以及SOIC-8和TSSOP-8。其中許多封裝還支持可潤濕側(cè)翼,支持在生產(chǎn)流程中進行自動光學檢查。

          4 結(jié)論

            在汽車應(yīng)用中,耐久性和保存能力越來越重要,EEPROM比其他形式的非易失性存儲器提供更高的可靠性。隨著汽車制造商實施更多的駕駛員輔助功能和開發(fā)安全至上的要素,提供高度可靠的EEPROM正在成為支持下一代功能的基礎(chǔ)。

            憑借一系列廣泛的方案,包括低壓1級和真正的0級EEPROM,安森美半導體能夠滿足原始設(shè)備制造商(OEM)和一級供應(yīng)商的需求。

            本文來源于《電子產(chǎn)品世界》2018年第12期第26頁,歡迎您寫論文時引用,并注明出處。



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