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          1萬(wàn)億次寫(xiě)入壽命 傳三星1Gb eMRAM內(nèi)存良率已達(dá)90%

          作者:憲瑞 時(shí)間:2019-12-31 來(lái)源:快科技 收藏

          今年3月份,宣布全球第一家商業(yè)化規(guī)模量產(chǎn)eMRAM(嵌入式磁阻),基于28nm FD-SOI(全耗盡型絕緣層上硅)成熟工藝,容量8Mb,可廣泛應(yīng)用于MCU微控制器、IoT物聯(lián)網(wǎng)、AI人工智能領(lǐng)域。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201912/408800.htm

          MRAM是一種非易失性存儲(chǔ),其前景被廣泛看好,Intel、IBM、TDK、、希捷等行業(yè)巨頭多年來(lái)一直都在研究,讀寫(xiě)速度可以媲美SRAM、DRAM等傳統(tǒng),當(dāng)同時(shí)又是非易失性的,也就是可以斷電保存數(shù)據(jù),綜合了傳統(tǒng)內(nèi)存、的有點(diǎn)。

          量產(chǎn)的eMRAM內(nèi)存是基于磁阻的存儲(chǔ),擴(kuò)展性非常好,在非易失性、隨機(jī)訪問(wèn)、壽命耐久性等方面也遠(yuǎn)勝傳統(tǒng)RAM。由于不需要在寫(xiě)入數(shù)據(jù)前進(jìn)行擦除循環(huán),eMRAM的寫(xiě)入速度可以達(dá)到eFlash的大約一千倍,而且電壓、功耗低得多,待機(jī)狀態(tài)下完全不會(huì)耗電,因此能效極高。

          在8Mb eMRAM內(nèi)存之后,三星最近已經(jīng)開(kāi)始生產(chǎn)1Gb容量的eMRAM內(nèi)存,依然使用了28nm FD-SOI工藝,最新良率已經(jīng)達(dá)到了90%,使得eMRAM內(nèi)存實(shí)用性大大提升。

          盡管1Gb的容量、性能依然遠(yuǎn)不如現(xiàn)在的內(nèi)存及,但是eMRAM內(nèi)存超強(qiáng)的壽命、可靠性是其他產(chǎn)品不具備的,這款eMRAM內(nèi)存在105°C高溫下依然能夠擦寫(xiě)1億次,85°C高溫下壽命高達(dá)100億次。

          如果不是那么苛刻的溫度環(huán)境,而是日常使用環(huán)境,那么eMRAM內(nèi)存的擦寫(xiě)次數(shù)高達(dá)1萬(wàn)億次,已經(jīng)沒(méi)可能寫(xiě)死了。

          1萬(wàn)億次寫(xiě)入壽命 傳三星1Gb eMRAM內(nèi)存良率已達(dá)90%



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