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          基于單片機的RLC電抗參數(shù)測試系統(tǒng)設(shè)計與應(yīng)用*

          作者:曹新敏,晏 勇 (阿壩師范學院 電子信息與自動化學院,四川 汶川623002) 時間:2021-07-19 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
          編者按:針對傳統(tǒng)RLC電抗參數(shù)測試系統(tǒng)復雜、功耗大、精度低等方面的局限,設(shè)計了一種基于單片機的RLC電抗參數(shù)測試系統(tǒng),利用振蕩電路與待測元件的線性關(guān)系準確測量RLC器件的電抗參數(shù)。系統(tǒng)采用STC89C52單片機作為中心控制器,NE555產(chǎn)生計數(shù)脈沖,CD4052模擬開關(guān)切換測量模式,操作簡單實用。經(jīng)實驗測試,RLC參數(shù)測試系統(tǒng)響應(yīng)快、精度高、穩(wěn)定性強,具有很強的使用價值。

          目前 電抗測試類設(shè)備基本工作原理為電阻器電阻值變化量,電容器電容值的變化以及電感器電感值的變化量均轉(zhuǎn)換為電壓變化或頻率,通過高精度AD 采集或頻率檢測等方法獲得確定的電抗數(shù)值,確定相應(yīng)器件的具體參數(shù)[1]。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/202107/426975.htm

          在現(xiàn)代電子信息科學研究中,需要對電阻、電容或電感的電抗參數(shù)進行測量,萬用表以其簡單易用、功耗低等優(yōu)點被大部分人所采用。然而萬用表存在局限性,如不能測量電感與大容量電容。因此,研制一種簡單易用的 電抗參數(shù)測量儀器十分必要,存在巨大的市場空間。

          *基金項目:阿壩州應(yīng)用技術(shù)研究與開發(fā)重點項目(19YYJSYJ0091);四川省教育信息技術(shù)“十三五”規(guī)劃課題(川教館2019-142)。阿壩師范學院自然科學重點項目(ASA19-17)

          1   系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計

          測試系統(tǒng)采用MCU 作為電阻、電容、電感的電抗參數(shù)測試中心控制器,實現(xiàn)對其電抗參數(shù)的測試。系統(tǒng)分為參數(shù)測量模塊、通道選擇模塊、控制電路模塊和顯示模塊四個部分,通過輸入輸出端口向發(fā)送兩位地址信號,得到相應(yīng)的振蕩頻率,根據(jù)輸出頻率切換測試量程,同時進一步處理電抗參數(shù)輸出值,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1。

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          控制電路模塊以STC89C52 為核心,具有中斷、定時、計數(shù)等功能模塊。系統(tǒng)設(shè)計中,采用LCD1602 作為顯示器,CD4502 作為 與3 個測量模式控制按鍵分別為SR、SC、SL,切換不同參數(shù)測量模式,實現(xiàn)智能選擇并測量。通道選擇由MCU 控制CD4052 模擬選擇開關(guān)完成檔位切換。測量電路中RC震蕩電路采用555 振蕩器與電容三端式振蕩電路,實現(xiàn)電抗參數(shù)的間接測量[2]。

          作者簡介:曹新敏(2001—),四川成都,阿壩師范學院本科在讀,主要研究方向:嵌入式系統(tǒng)軟硬件設(shè)計。

          通信作者:晏勇(1983—),四川成都,副教授,碩士,主要研究方向:嵌入式系統(tǒng)軟硬件協(xié)調(diào)設(shè)計,無線傳感器網(wǎng)絡(luò)。

          2   硬件電路設(shè)計

          2.1 STC89C52電路設(shè)計

          基于MCU 的 電抗參數(shù)測試系統(tǒng)采用STC89C52中心控制器,最小系統(tǒng)包括電源模塊、復位模塊、晶振時鐘模塊、串口下載模塊[3]最小系統(tǒng)如圖2 所示。

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          圖2 單片機最小系統(tǒng)

          2.2 顯示電路及按鍵電路設(shè)計

          在RLC 電抗參數(shù)測試過程中,LED 用于顯示電抗參數(shù)類別和電源狀態(tài)指示,方便直觀。系統(tǒng)MCU 的I/O與LED 采用共陽方式連接,控制程序放在STC89C52的ROM 中,I/O 口輸出低電壓,相連的狀態(tài)顯示LED被點亮;I/O 口輸出高電壓,狀態(tài)顯示LED 熄滅,LED接口電路如圖3 所示。

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          圖3 LED接口電路

          在LED 電路中,每個LED 與MCU 的I/O 之間都必須串聯(lián)限流電阻,而且阻值至少為180 Ω 。按照電源電壓2.3 V 時正常發(fā)光工作電流為15 mA 計算,分去5 V 電源電壓中的2.7 V 電壓,則得到

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          且電阻功率應(yīng)為

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          系統(tǒng)設(shè)計中設(shè)置了SR、SC、SL 模式按鍵,分別與單片機P1.3、P1.4 和P1.5 直接相連,按鍵電路如圖4所示。

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          圖4 按鍵電路

          2.3 電阻測量電路設(shè)計

          555 時基電路是一種應(yīng)用廣泛的時基發(fā)生器,外接電阻與電容即可組成器[4]。電抗參數(shù)測量采用“脈沖計數(shù)法”,由555 電路組成器,通過555 輸出振蕩頻率計算被測R 阻值[5],測量原理如圖5。

          555 時基電路構(gòu)成的器,振蕩周期為:

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          得:

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          即:

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          其中, R5 = 1 kΩ , R6 = 1 kΩ , C5 = 0.1 μF。

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          圖5 電阻測量原理圖

          2.4 電容測量電路設(shè)計

          電容電抗參數(shù)測量方法也是采用“脈沖計數(shù)法”,由555 時基電路構(gòu)成多諧振蕩電路[6],通過計算振蕩器輸出頻率計算被測電容的大小[7],電容測量原理如圖6。555 電路多諧振蕩器振蕩周期為:

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          設(shè):image.png ,得:

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          即:

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          其中: R3 = 200 kΩ,R4 =1 MΩ,C4 = 0.1 μF

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          圖6 電容測量原理

          2.5 電感測量電路設(shè)計

          電感電抗參數(shù)測量采用電容三端式振蕩器,電容三端式振蕩器也稱為考畢茲振蕩電路[8],采用“射同余異”的組成原則[9],電感測量原理如圖7 所示,振蕩頻率為:

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          即:

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          圖7 電感測量電路

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          3   軟件設(shè)計

          系統(tǒng)軟件設(shè)計,以單片機作為控制器,控制按鍵選擇參數(shù)測量模式,通過LCD 顯示測量結(jié)果,模式控制按鍵處理流程如圖8。

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          RLC 電抗參數(shù)測試系統(tǒng)設(shè)計中,為了操作方便、直觀,LED 顯示被測參數(shù)的模式,通過按鍵SR、SC、SL來進行控制,按鍵子程序操作流程如圖9。

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          測試中放入待測元器件,開啟電源,選擇測量參數(shù)模式。首先選擇被測元件電抗參數(shù)的類別,MCU 控制器根據(jù)模式開啟不同的測試模塊程序,測試完成后結(jié)果通過LED 顯示。

          系統(tǒng)設(shè)計中頻率計算通過MCU 外部中斷INT1 實現(xiàn),對外觸發(fā)產(chǎn)生的脈沖頻率進行測量,通過MCU 對測量數(shù)據(jù)校正計算完成對頻率[10]。MCU 頻率測量原理如圖10。

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          當t1 時刻檢測到高電平,開定時器同時計數(shù); t2 時刻等待檢測低電平;在t3 時刻第二次檢測到高電壓,關(guān)閉定時器并停止計數(shù)[11]。

          GATE =1,TR1 =1 , 當INT1引腳的輸入為高電壓時, t1 開始計數(shù)。外部輸入脈沖經(jīng)過INT1 引腳,當檢測到高電壓時,打開定時器開始計數(shù);當檢測到低電平時,記錄脈沖的脈寬,但需要的參數(shù)是頻率,所以在程序中要繼續(xù)檢測,等待下一個高電壓的到來;再次檢測到高電壓時,關(guān)閉定時器停止計數(shù),用此計數(shù)據(jù)乘以機器周期,得出觸發(fā)電路產(chǎn)生周期,最后通過計算得到輸入信號頻率f [12],測頻程序流程如圖11。

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          4   實驗與測試

          4.1 液晶顯示電路調(diào)試

          顯示電路分別與MCU 的P1.0、P1.1、P1.2 相連接,顯示測量結(jié)果。接通電源,用示波器測試輸出波形,輸出顯示為方波,電路焊接無誤工作正常,否則硬件電路存在故障,應(yīng)斷電檢查。改變電源輸出電壓,輸出方波頻率會隨之發(fā)生變化。經(jīng)測試,當Vcc 為3.25 V 左右時誤差較小。

          4.3 實驗數(shù)據(jù)

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          5   結(jié)束語

          系統(tǒng)采用STC89C52 為核心,便于攜帶,穩(wěn)定性強,調(diào)試和維護簡便。通過555 振蕩器與電容三端式振蕩器產(chǎn)生不同振蕩頻率,測試頻率通過CD4052 輸入單片機計數(shù),顯示電路顯示被測參數(shù)的測量值。根據(jù)按鍵選擇情況,控制被測參數(shù)所對應(yīng)的子程序,靈活控制被測參數(shù)檔位切換。經(jīng)測試,RLC 參數(shù)測試系統(tǒng)精度高、響應(yīng)快、抗干擾能力強,具有很強的使用價值。

          參考文獻:

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          [3] 王劍,王黨朝,黃永超,等.基于Labview的仿真暫態(tài)過程測量儀開發(fā)[J].內(nèi)江師范學院學報,2019,34(08):48-52.

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          [11] 王勇,王梨英.高精度測量儀的研究與設(shè)計[J].電子世界,2018,(06):140-160.

          [12] 黃江.基于STM32 的高精度電容測量儀設(shè)計[J].科技創(chuàng)新導報,2017(27):139-141.

          (本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2021年6月期)



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