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          高精度直流微電阻測試儀的研究與開發(fā)-----硬件系統(tǒng)設計(一)

          作者: 時間:2013-02-19 來源:網(wǎng)絡 收藏


          電壓就成了無法與被測信號分離的“誤差電壓”。在這種情況下,本儀器采用了自穩(wěn)零運算放大器,其基本設計思路是:將放大器的失調電壓記憶在記憶電容上,然后將它回送到放大器的輸入端,以抵消放大器本身的失調電壓。其原理圖如圖3.4。
          自穩(wěn)零電路原理圖


          電路分為兩個階段,第一階段為檢測誤差電壓和寄存誤差電壓到記憶電容q的階段。第二階段即實現(xiàn)對失調電壓接近理想的校正,并進行放大。自校零技術能夠將零點漂移的影響降低至snV/℃。

          由于要實現(xiàn)對微小電阻的測量,所以要求放大器的分辨率高(高達10uV),線性度好,輸入阻抗高,并要求漂移低、噪聲低和抗干擾能力強.應選用精密電阻和精密電位器,使溫度的影響降至最低.為此,本測試儀的放大系統(tǒng)主要采用集成運放OP177、IC76Rc實現(xiàn)。該電路的特點是:輸入失調電壓溫度漂移低,輸入失調電流溫度漂移低,等效輸入噪聲電壓小,等效輸入噪聲電流小,開環(huán)差模電壓增益高,共模抑制比高。在本電路中,采用了差模輸入的方法來減少誤差。

          數(shù)據(jù)采集電路設計圖


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          關鍵詞: 高精度 直流微電阻測試儀 硬件系統(tǒng)

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