如何降低測試系統(tǒng)開關噪聲(04-100)
—— 如何降低測試系統(tǒng)開關噪聲
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為測試電子和機電器件設計開關系統(tǒng)所遇到的問題和設計產(chǎn)品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現(xiàn)以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測試開關系統(tǒng)中的噪聲比以前任何時候更加重要。
本文引用地址：http://cafeforensic.com/article/81053.htm本文所述的噪聲降低技術準則是針對信號頻率低于300MHz、電壓低于250V、電流小于5A和電壓乘赫茲積小于107。
任何新式測試系統(tǒng)都用很多信號和電源線來仿真和測量DUT(待測器件)，并有各種各樣的開關進行自動連接。通用測試系統(tǒng)結(jié)構示于圖1?？刂瓶偩€示于圖中左邊。模擬、數(shù)字和電源總線作為垂直線對示于不同子系統(tǒng)后面。
開關是整個系統(tǒng)的中心，互連很多測試點到測量儀器和路由信號、電源到DUT。幾乎所有模擬和數(shù)字信號以及電源通過開關系統(tǒng)。
如果設計不注意，開關系統(tǒng)可能是測量誤差之源。有時是莫明其妙的誤差。其原因是簡單的，很多的互連通常彼此緊靠著，這為噪聲耦合提供足夠的機會。每個噪聲問題都有一個噪聲源，以某種形式耦合到接收機，依次對噪聲敏感。
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